[发明专利]碲锌镉晶体的电感耦合等离子体刻蚀工艺方法有效

专利信息
申请号: 201910551761.9 申请日: 2019-06-25
公开(公告)号: CN110289215B 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 黄健;黄柘源;胡艳;邹天宇;唐可;尚艺;别佳瑛;王林军 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: H01L21/465 分类号: H01L21/465;H01L21/67;H01J37/32
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 顾勇华
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 碲锌镉 晶体 电感 耦合 等离子体 刻蚀 工艺 方法
【权利要求书】:

1.一种碲锌镉晶体的电感耦合等离子体刻蚀工艺方法,其特征在于:包括如下步骤:

(1)CdZnTe晶体的机械抛光预处理:

在准备好CdZnTe晶体材料之后,采用机械抛光的方法,减小CdZnTe晶体材料表面的粗糙度,用0.05~1.0m粒度的氧化铝抛光粉配成的抛光液,对CdZnTe晶体材料表面进行抛光1~2h,直到CdZnTe晶体材料表面光滑,且CdZnTe晶体材料表面光线呈现镜面反射,并且CdZnTe晶体材料表面无颗粒状形态,然后将机械抛光后的CdZnTe晶体材料进行清洗,然后用氮气吹干,得到洁净的CdZnTe晶体材料;

(2) CdZnTe晶体的匀胶光刻过程:

采用半导体材料的光刻工艺,在所述步骤(1)中制备所得的洁净的CdZnTe晶体材料表面进行光刻;当进行光刻时,准备正胶光刻胶,使用匀胶机涂胶,控制前烘后烘总时间为5~30min,并采用深紫外线曝光,控制曝光时间8~10s,控制显影时间为10-20s,然后进行清洗,取出干燥,得到光刻处理的CdZnTe材料;

(3)CdZnTe晶体的电感耦合等离子体刻蚀工艺过程:

采用电感耦合等离子体刻蚀的方法,在所述步骤(2)光刻后得到的光刻处理的CdZnTe材料表面进行刻蚀,采用SF6和Ar气为刻蚀源气体,控制刻蚀腔环境的真空度不大于1.0×10-4Pa,控制Ar和SF6的气体体积比为1:(1~2);控制射频电源频率为13.56MHz,控制刻蚀腔体气压为1~2Pa,控制射频功率RF1为600W,射频功率源RF2为150W,控制调整Ar和SF6不同的气体流量及比例达到不同的刻蚀效果,控制刻蚀时间为30~180min,待电感耦合等离子体刻蚀过程结束后,取出CdZnTe材料,得到薄膜碲锌镉晶体材料器件。

2.根据权利要求1所述碲锌镉晶体的电感耦合等离子体刻蚀工艺方法,其特征在于:在所述步骤(1)中,所述CdZnTe晶体材料采用衬底-半导体的结构的组合形式复合薄膜材料,具有依次由衬底层和CdZnTe晶体层两部分进行层叠组装结合的结构。

3.根据权利要求1所述碲锌镉晶体的电感耦合等离子体刻蚀工艺方法,其特征在于:在所述步骤(1)中,采用精密机械磨抛机,在CdZnTe晶体材料表面上进行抛光处理。

4.根据权利要求1所述碲锌镉晶体的电感耦合等离子体刻蚀工艺方法,其特征在于:在所述步骤(3)中,控制Ar的气体流量不低于40sccm。

5.根据权利要求1所述碲锌镉晶体的电感耦合等离子体刻蚀工艺方法,其特征在于:在所述步骤(3)中,得到薄膜碲锌镉晶体材料器件的衬底厚度不低于2mm,CdZnTe晶体厚度不高于200。

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