[发明专利]嵌入式系统的自动化测试系统及方法

权利要求书

1.一种嵌入式系统的自动化测试系统，其特征在于包括：

测试目标；

多个测量仪器，用以测量前述测试目标的待测量数据；

测量转换电路，其包括多路开关转换矩阵和控制开关，将所有测量仪器和测试目标同时连接在该转换矩阵上，通过控制开关的通断来连接任意测量仪器和任意测试目标；

上位机，用于采集测试项信息，并根据测试项信息控制测量转换电路上的控制开关通断，从而使得相应的测量仪器和测试目标连通；以及控制测量仪器进入测量状态，并控制测试目标进入待测试项运行状态，获取测量数据。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在在于：所述测量转换电路包括多个多路开关转换矩阵，对多路开关转换矩阵进行拓扑扩展使其级联扩展出更多的测量点。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在在于：在行方向上扩展时，相邻两个多路开关转换矩阵通过上侧或下侧的测量点连通；和/或，

在列方向上扩展时，相邻两个多路开关转换矩阵通过左侧或右侧的测量点连通。

4.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于：所述控制开关为二极管和/或三极管。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于：所述控制开关通过单片机和/或FPGA输出高低电平来控制通断。

6.一种嵌入式系统的自动化测试方法，其特征在于包括步骤：

步骤100，将所有测量仪器和测试目标连接在测量转换电路上；所述测量转换电路包括多路开关转换矩阵和控制开关，将所有测量仪器和测试目标同时连接在该转换矩阵上，通过控制开关的通断来连接任意测量仪器和任意测试目标；

步骤200，根据测量仪器和测试目标的连接情况，生成配置信息并输入给上位机；

步骤300，上位机读取测试项信息；

步骤400，上位机根据前述配置信息和测试项信息控制测量转换电路使相应的测量仪器和测试目标连通；

步骤500，控制相应的测量仪器进入测量状态；

步骤600，控制测试目标进入前述测试项运行状态；

步骤700，检测是否测量完成，测量完成时执行步骤800；否则回归执行步骤500；

步骤800，上位机判断是否还有剩余测试项，判定具有剩余测试项时返回执行步骤400，否则结束测试。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于：所述测量转换电路包括多个多路开关转换矩阵，对多路开关转换矩阵进行拓扑扩展使其级联扩展出更多的测量点。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于：所述控制开关为二极管和/或三极管。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于：所述控制开关通过单片机和/或FPGA输出高低电平来控制通断。

10.根据权利要求6所述的方法，其特征在于：所述待测量数据为电压、电流、电阻、电容和/或时钟信号数据。