[发明专利]一种玻璃基板检测方法、装置及系统

说明书

本申请公开了一种玻璃基板检测方法、装置及系统，该方法包括：获取玻璃基板检测信息，该玻璃基板检测信息包括玻璃基板检测路径上的至少一个采样点对应的接触式检测设备下压量补偿值，该至少一个接触式检测设备下压量补偿值是对样本玻璃基板进行非接触式检测得到的；沿玻璃基板检测路径对待检测玻璃基板进行接触式检测，其中，在玻璃基板检测路径上的至少一个采样点位置，根据至少一个接触式检测设备下压量补偿值中对应该位置的接触式检测设备下压量补偿值，对该位置上的接触式检测设备下压量进行补偿，待检测玻璃基板与样本玻璃基板为同一类型的玻璃基板。

技术领域

本申请涉及玻璃基板检测技术领域，尤其涉及一种玻璃基板检测方法、装置及系统。

背景技术

在液晶显示行业，通常采用非接触式检测或接触式检测对玻璃基板做开路、短路检测。非接触式检测是将检测传感器气浮于玻璃基板，具有检测速度快、不会对检测对象造成划伤、不需要检测对象做特殊检测区域、非消耗品可长期使用等优点；接触式检测则将检测传感器接触到玻璃基板，可施加更大电压，检出率更高，且不受线条之间的宽度限制。

随着厂家对检出率要求的提高，且液晶显示设备的分辨率越来越高，玻璃基板内线条之间的宽度变得更小，相较于非接触式检测，接触式检测获得更多的应用。但在使用接触式检测设备对玻璃基板进行检测时，接触式检测设备需要下压接触到基板，如果下压过多，存在划伤甚至划断基板线路的风险，划伤所在的基板CELL将不能使用，造成直接损失；如果下压过少，检测可靠性降低，检出率低，影响后续修复工序，甚至可能在出货时产品存在缺陷，造成间接损失。

发明内容

本申请实施例提供一种玻璃基板检测方法、装置及系统，用以动态调整接触式检测过程中接触式检测设备的下压量。

第一方面，提供一种玻璃基板检测方法，包括：获取玻璃基板检测信息，所述玻璃基板检测信息包括玻璃基板检测路径上的至少一个采样点对应的接触式检测设备下压量补偿值；其中，所述至少一个接触式检测设备下压量补偿值是对样本玻璃基板进行非接触式检测得到的；沿所述玻璃基板检测路径对待检测玻璃基板进行接触式检测，其中，在所述玻璃基板检测路径上的至少一个采样点位置，根据所述至少一个接触式检测设备下压量补偿值中所述位置对应的接触式检测设备下压量补偿值，对所述位置上的接触式检测设备下压量进行补偿，所述待检测玻璃基板与所述样本玻璃基板为同一类型的玻璃基板。

可选地，所述玻璃基板检测信息还包括：玻璃基板类型，所述玻璃基板检测信息至少包括：第一玻璃基板类型对应的检测信息，用于对第一类型的玻璃基板进行接触式检测，所述第一玻璃基板类型对应的检测信息中的接触式检测设备下压量补偿值是对第一类型的玻璃基板进行非接触式检测得到的；第二玻璃基板类型对应的检测信息，用于对第二类型的玻璃基板进行接触式检测，所述第二玻璃基板类型对应的检测信息中的接触式检测设备下压量补偿值是对第二类型的玻璃基板进行非接触式检测得到的；所述获取玻璃基板检测信息，包括：对第一类型的待检测玻璃基板进行接触式检测时，获取所述第一玻璃基板类型对应的检测信息；对第二类型的待检测玻璃基板进行接触式检测时，获取所述第二玻璃基板类型对应的检测信息。

可选地，所述玻璃基板检测信息还包括：玻璃基板检测指标，所述玻璃基板检测信息至少包括：第一玻璃基板检测指标对应的检测信息，用于对玻璃基板的第一检测指标进行接触式检测；第二玻璃基板检测指标对应的检测信息，用于对玻璃基板的第二检测指标进行接触式检测；所述获取玻璃基板检测信息，包括：对待检测玻璃基板的第一检测指标进行接触式检测时，获取所述第一玻璃基板检测指标对应的检测信息；对待检测玻璃基板的第二检测指标进行接触式检测时，获取所述第二玻璃基板检测指标对应的检测信息。

可选地，所述玻璃基板检测信息为预先存储的。