[发明专利]一种用于发控系统的多路选通电路

说明书

本发明公开了一种用于发控系统的多路选通电路，包括一个数字控制模拟开关，一个3线‑8线译码器，一个高精度低功耗仪表放大器。当发控系统进行相关工作时，产生多路信号，接入数字控制模拟开关。发控系统的主控CPU依据工作逻辑，输出控制信号，顺次完成3线‑8线译码器的有效选通以及数字控制模拟开关的有效使能。然后主控CPU再次依据工作逻辑，输出控制信号，使数字控制模拟开关的内部控制通路依据工作逻辑，逐路闭合，将数字控制模拟开关的输入信号逐次连通至其输出端口，接入后级电路。本发明能够准确、可靠的发出控制信号，完成对多路输入信号的选通输出，且有效保证在任意时刻，有且仅有唯一的一组输入信号通过数字控制模拟开关进行选通输出，接入后级电路。

技术领域

本发明涉及一种多路选通电路，尤其是一种用于发控系统的多路选通电路。

背景技术

导弹发射控制系统简称发控系统，其任务是对导弹的发射准备和发射过程进行控制，确保导弹正常顺利地发射，其是导弹武器系统发挥战术技术性能的重要保证，也是导弹武器系统指挥决策的重要依托。

为了确保正常发挥导弹武器系统的功能，在导弹发射前必须对与之配套的设备和连接各设备的电缆进行检测，判断各设备是否能正常运行和电缆是否完好。其中，保证互联电缆绝缘性能良好是一个关系到弹地信号可靠交互、发射现场安全运行的重要因素。故在发控系统开展工作前，对系统内部电缆网进行绝缘性能检测，掌握准确、可靠的现场数据是必须进行的一项工作。

宇航出版社出版的《导弹测试发控系统》，对发控设备绝缘电路描述提及：脉冲源产生0.5～10Hz脉冲，通过控制器送给“计数器”，当它计完一个周期后，向B计数器送一个“进位脉冲”，这样就实现了一个点分别对其他各点的测试。为了提高效率，避免重复测试，当“A计数器”向“B计数器”进位后，“B计数器”反过来向“A计数器”置位。

以上设计方法虽然经过型号试验证明了一定的可行性，但存在以下问题：绝缘性能检测的工作原理就是通过对被测物体加压，检测通过被测物体的电流，从而来判定两物体之间的连通特性。为了精确测试，一般为单点对单点的芯线间性能检测。按照上述方法，需要由A、B两计数器按照软件约定分别进行计数，然后去控制译码电路，再由译码电路输出信号去控制相应的继电器进行动作。继电器的线包上电动作后，常开触点闭合(同时，常闭触点断开)，被测信号通路被连通，接入测量电路，依此原理，逐路完成待测电缆的绝缘性能测试。这样，一组被测芯线组合对应一组输出通路控制电路，如果兼顾所有被测电缆的芯点数进行考虑，整个绝缘测试设备的体积就会较大。而在导弹临射前，需要快速完成各项性能检测，故对设备展开时效有一定的要求，体积较大、质量较沉重都不利于射前的设备快速展开，进而会延长整个射前检测流程的工作时长。

因此，需深入研究适应未来发射点火控制技术发展的可靠、有效的多路选通电路。

发明内容

本发明的目的是：克服以上缺点，提供一种用于发控系统的多路选通电路，只需一组选通电路，即可可靠、有效的完成多路(最多十六路)模拟量的选通，接入后级测量电路，完成相应测试功能。

本发明的技术解决方案是：一种用于发控系统的多路选通电路，包括一个数字控制模拟开关U1，一个3线-8线译码器U2，一个高精度低功耗仪表放大器U3。

输入信号1～输入信号16为发控系统绝缘测试电路需要逐路进行检测的待测量；CTR1～CTR10为发控系统的主控CPU上电运行工作逻辑后，依次顺序产生的控制信号中的多组信号。这个工作控制逻辑是发控系统依据各逻辑组合形成，依照时间顺序发生，不在本发明介绍范围内。本文以1路待测信号为例进行说明，多路信号应用原理相同，依此类推。