[发明专利]单固定型故障基于可测试性影响锥的测试精简方法及系统

权利要求书

1.一种单固定型故障基于可测试性影响锥的测试精简方法，其特征在于，包括：

S1.1，获取所述单固定型故障点集合中所有故障点的影响锥；

S1.2，从单固定型故障点集合中获取目标故障点f的ST故障集合，并设置所述ST故障集合的大小为指定数目，ST←Ф；

S1.3，从所述单固定型故障点集合中提取故障点f₁，所述故障点f₁与所述目标故障点f的影响锥具有最小重合度；

S1.4，若所述故障点f₁与所述目标故障点f的可测试性影响锥不交叉时，ST←ST∪{f₁}；

S1.5，重复S1.3-S1.4，遍历所述单固定型故障点集合中所有故障点，直至获取到所述指定数目的故障点，构成所述ST故障集合；

生成所述目标故障点f的测试向量并在所述f测试向量的约束下获取所述ST故障集合中故障的测试向量集合；

S1.6，若所述单固定型故障点集合非空，重复执行S1.2-S1.5,直至完成动态测试精简；

S1.7，对经过动态精简的所述测试向量集合，进行静态测试精简，获取精简后的最终测试向量集合；

所述影响锥为：待测数字集成电路中扫描触发器的输入端集合PPIs与所述待测数字集成电路输入集合PIs的最小集合；

所述可测试性影响锥为：将所述待测数字集成电路中某一门设置为确定值时，所需要置为确定值的所述输入端集合PPIs及所述输入集合PIs的最小集合。

2.根据权利要求1所述的单固定型故障基于可测试性影响锥的测试精简方法，其特征在于，所述可测试性影响锥的生成算法，包括：

S21，以所述待测数字集成电路中的门l为起点，以门为单位扫描所述待测数字集成电路，计算RC_i(PI)＝{PI},RC_i(PPI)＝{PPI},i∈{0，1}；其中，RC_i(l)指将门l输出置为i值，需要将扫描触发器对应的所述输入端集合PPIs以及所述输入集合PIs置为确定值的最小集合；

若门l为AND门输出，则RC₁(l)＝RC₁(A)∪RC₁(B)；其中，若|RC₀(A)|≤|RC₀(B)|，RC₀(l)＝RC₀(A)；若|RC₀(A)||RC₀(B)|，RC₀(l)＝RC₀(B)；

若门l为OR门输出，则RC₀(l)＝RC₀(A)∪RC₀(B)；其中，若|RC₁(A)|≤|RC₁(B)|，RC₁(l)＝RC₁(A)；若|RC₁(A)||RC₁(B)|，RC₁(l)＝RC₁(B)；

若门l为NOT门的输出，则输入为A，RC₁(l)＝RC₀(A),RC₁(l)＝RC₁(A)；

若门l为扇出源，分支为：B₁,B₂,…,B_k，RC_i(B_j)＝{RC_i(B_j)}，其中，所述B_j表示扇出源的扇出分支门，j∈{1,2,…k}；

S22，重复执行步骤S21，遍历所述待测数字集成电路的所有的门，直至出现PPOs或POs时终止，获取所述输入端集合PPIs与所述输入集合PIs后构成所述故障点的可测试性影响锥；

所述PPOs为：扫描触发器的输出端集合；所述POs为：待测数字集成电路的输出端集合。

3.根据权利要求1所述的单固定型故障基于可测试性影响锥的测试精简方法，其特征在于，所述目标故障点为：所述单固定型故障点集合中与最小影响锥相对应的故障点。