[发明专利]一种微推力架精度测量装置及测量方法

说明书

本发明公开了一种微推力架精度测量装置及测量方法，在微推力架的定架上固定一定架加长架，在定架加长架上固定第一测量支架，在第一测量支架上固定一定滑轮，缠绕于定滑轮上的绳索的两端分别接砝码盘和微推力架的动架，通过在砝码盘中加入已知质量的砝码来提供一个已知的推力，利用微推力架对提供的已知推力进行测量，通过比较微推力架测量得到的推力与砝码盘提供的已知推力的大小，可以确定微推力架的测量精度，可以避免由于微推力架的测量精度较低导致推力的测量误差较大致使在后续设计中产生更为严重的不良影响的问题；上述微推力架精度测量装置，结构简单，使用方便，具有极高的普适性，可用于各种类型的微推力架上测量微推力架的测量精度。

技术领域

本发明涉及电推进技术领域，尤其涉及一种微推力架精度测量装置及测量方法。

背景技术

化学推进主要通过推进工质的化学反应释放能量并将工质喷出产生反推力。与化学推进不同的是，电推进是利用电能加热或者电离推进剂加速喷射而产生推力的一种反作用式推力器。相比于传统的化学推进，电推进具有比冲高、推力小、可多次点火的优点。发展电推进已经成为未来的发展趋势，我国也将在以后的卫星上应用全电推进。

目前，电推力器多用于卫星的轨道转移和位置保持，电推力器的比冲、功率以及推力等性能都对电推力器的评价有着极其重要的意义。对于电推力器而言，由于其推力极小，小至微牛量级，因此，需要特定的、测量精度高的微推力架对电推力器的推力进行测量，以得到电推力器的实际推力和比冲，从而对电推力器的整体性能进行一个综合的评价。

在利用微推力架对电推力器进行推力测量时，由于电推力器的实际推力极其微小，因此，微推力架的测量精度会极大影响电推力器的实际推力的测量误差。微推力架的测量精度较低，会使电推力器的实际推力的测量误差较大，进而会在后续设计中产生更为严重的不良影响，因此，预先对微推力架的测量精度有一个定量的认识，显得尤为重要。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种微推力架精度测量装置及测量方法，用以准确测量微推力架的测量精度。

因此，本发明提供了一种微推力架精度测量装置，包括：

定架加长架，位于所述微推力架的定架的延伸方向上与所述定架固定连接，与所述微推力架的动架相对设置；

第一测量支架，在预定位置与所述定架加长架固定连接，顶部具有凹槽；

定滑轮，位于所述第一测量支架的凹槽内，中心轴固定于所述第一测量支架上；

砝码盘，与缠绕于所述定滑轮的圆周上的绳索的一端固定连接；所述绳索的另一端与所述动架固定连接；

通过在所述砝码盘内加入砝码，模拟推力器对所述动架产生推力。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述微推力架精度测量装置中，所述定架加长架为U型架，包括：与所述定架的延伸方向平行设置且顶端分别与所述定架的两个侧面固定连接的两根支撑条、与每根所述支撑条垂直设置且与每根所述支撑条的末端固定连接的滑动轨道；

所述第一测量支架，在所述滑动轨道上滑动至所述预定位置与所述滑动轨道固定连接，与所述滑动轨道所在平面垂直设置，位于所述滑动轨道面向所述动架的一侧。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述微推力架精度测量装置中，每根所述支撑条的顶端通过螺栓和螺母与所述定架的侧面固定连接。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述微推力架精度测量装置中，所述滑动轨道通过螺栓和螺母与每根所述支撑条的末端固定连接。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述微推力架精度测量装置中，所述第一测量支架通过螺栓和螺母与所述滑动轨道固定连接。