[发明专利]一种显示面板、显示装置和检测方法有效
申请号: | 201910562385.3 | 申请日: | 2019-06-26 |
公开(公告)号: | CN110264929B | 公开(公告)日: | 2023-09-19 |
发明(设计)人: | 李广耀;王东方;汪军;王海涛;王庆贺;钱国平;季雨;黄先纯;张涛;周玉喜;甘由鹏;周超;胡洋;沈忱;汪焰兵;彭允;陈云;梁泉 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;H10K59/123;H10K59/126;H10K59/131 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 李欣 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示 面板 显示装置 检测 方法 | ||
1.一种显示面板,包括显示区以及包围所述显示区的非显示区,所述非显示区具有栅极驱动电路,其特征在于,所述显示面板包括:多条沿同一方向延伸的扫描线,与每一所述扫描线分别通过一对应控制单元电连接的防静电线,所述防静电线的一端与测试垫电连接,所述测试垫位于所述非显示区的所述栅极驱动电路所在区域以外的其它区域,其中,所述同一方向为第一方向;
在对所述显示区进行不良检测时,所述控制单元被配置为将所述防静电线与各所述扫描线导通,所述防静电线被配置为将检测设备通过所述测试垫施加的电信号通过所述控制单元传输给各所述扫描线;
所述防静电线的另一端沿第二方向延伸,其中,所述第二方向垂直于所述第一方向;
所述防静电线与所述测试垫之间还电连接有防静电单元;
所述防静电单元被配置为在通过所述检测设备对所述显示区进行不良检测时,将所述检测设备的静电延时释放于整个所述显示面板;
所述显示面板还包括:多条与所述扫描线垂直的数据线,所述防静电线与所述数据线位于同一层,所述防静电线与所述扫描线位于不同层;
所述显示面板还包括:电源线、数据总线;
每一所述数据线的一端与所述显示区上方的数据总线之间均电连接控制单元,每一所述数据线的另一端与所述显示区下方的数据总线之间均电连接控制单元。
2.如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述控制单元包括:控制晶体管、第一控制电容和第二控制电容;
所述第一控制电容的第一端与所述防静电线、所述控制晶体管的第一极电连接,所述第一控制电容的第二端与所述控制晶体管的栅极、所述第二控制电容的第一端电连接;
所述控制晶体管的第二极与所述第二控制电容的第二端、所述扫描线电连接。
3.如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述防静电单元包括:防护晶体管,第一防护电容和第二防护电容;
所述第一防护电容的第一端与所述测试垫、所述防护晶体管的第一极电连接,所述第一防护电容的第二端与所述防护晶体管的栅极、第二防护电容的第一端电连接;
所述防护晶体管的第二极与所述第二防护电容的第二端、所述防静电线电连接。
4.如权利要求3所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板包括:多个像素电路;
所述扫描线包括:驱动各所述像素电路中第一开关晶体管的第一类扫描线,以及驱动各所述像素电路中第二开关晶体管的第二类扫描线;
所述防静电线包括:与所述第一类扫描线电连接的第一防静电线,以及与所述第二类扫描线电连接的第二防静电线;
所述第一防静电线以及所述第二防静电线分别位于所述非显示区的不同侧。
5.如权利要求4所述的显示面板,其特征在于,每一所述像素电路包括:所述第一开关晶体管、所述第二开关晶体管、驱动晶体管、存储电容、发光器件;
所述第一开关晶体管的栅极与所述第一类扫描线电连接,所述第一开关晶体管的第一极与数据线电连接,所述第一开关晶体管的第二极与所述驱动晶体管的栅极、所述存储电容的第一端电连接;
所述驱动晶体管的第一极与电源线电连接,所述驱动晶体管的第二极与所述发光器件的阳极、所述存储电容的第二端、所述第二开关晶体管的第一极电连接;
所述第二开关晶体管的栅极与所述第二类扫描线电连接,所述第二开关晶体管的第二极与感测信号线电连接。
6.如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述栅极驱动电路包括充电单元、自举单元、放电单元、维持单元外、随机感测单元和逐行感测单元。
7.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求1-6任一项所述的显示面板。
8.一种如权利要求1-6任一项所述的显示面板的检测方法,其特征在于,包括:
将所述检测设备的测试针与所述测试垫接触;
通过所述测试垫向所述防静电线加载第一信号,以通过所述控制单元传输给各所述扫描线,并向各数据线加载第二信号,以使每一像素位置处的发光器件的阳极具有预设电压;
将包括有液晶层以及电极层的调制装置置于所述显示面板的上方,根据所述液晶层在所述阳极与所述电极层形成的电场的偏转以及透光程度,检测各所述像素位置点处的电连接性。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910562385.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种背光芯片检测方法、装置及存储介质
- 下一篇:一种开盖拔取装置及检测系统