[发明专利]一种简易圆筒形舱体铸件壁厚量具在审
申请号: | 201910564163.5 | 申请日: | 2019-06-26 |
公开(公告)号: | CN110160428A | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 黄大顺;冯岩 | 申请(专利权)人: | 北京航天新风机械设备有限责任公司 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 | 代理人: | 苏爱华 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测针 通孔 舱体 铸件壁厚 圆筒形 量具 钢质结构件 铆钉轴 球头 简易 中心对称形状 毫米刻度尺 壁厚测量 公差要求 铸件表面 左右对称 不规则 侧端面 下端 相切 转轴 测量 铸造 检测 | ||
一种简易圆筒形舱体铸件壁厚量具,包括毫米刻度尺3,其特征在于,还包括S型测针I1、S型测针II2、铆钉轴4和转轴5,所述的S型测针I为S型扁平钢质结构件,在S型扁平钢质结构件的中心位置有一个通孔,上下部分为关于该通孔中心对称形状;S型测针I最下端为球头,S型测针I最上部侧端面所在的平面过通孔的轴线且与球头相切;S型测针II2的形状与S型测针I的形状左右对称;铆钉轴4安装在S型测针I1的通孔12和S型测针II2的通孔上;本发明解决了圆筒形不规则舱体铸件表面壁厚测量的难题,量具构造简单易用,读数方便快捷,测量误差远小于铸造公差要求,可大幅提高舱体铸件壁厚的检测效率。
技术领域
本发明是一种简易圆筒形舱体铸件壁厚量具,涉及用于铸件状态下圆筒形舱体壁厚测量,属于尺寸计量领域。
背景技术
超声波测厚仪常用于圆筒形舱体壁厚的测量,但必须要求被测物体表面光滑平整,不能有凹坑凸起等缺陷,因此表面凹凸不平的圆柱形舱体铸件的壁厚测量,超声波壁厚测量仪无法胜任。其他常见的尺寸量具,比如游标卡尺、千分尺(也称螺旋测微器)也均无法测量圆柱形舱体铸件深处的壁厚。
发明内容
本发明的目的是提供了一种简易圆筒形舱体铸件壁厚量具,解决了铸件状态下表面凹凸不平的圆柱形舱体壁厚测量。
一种简易圆筒形舱体铸件壁厚量具,包括毫米刻度尺3,其特征在于,还包括S型测针I1、S型测针II2、铆钉轴4和转轴5,所述的S型测针I为S型扁平钢质结构件,在S型扁平钢质结构件的中心位置有一个通孔,上下部分为关于该通孔中心对称形状;S型测针I最下端为球头,S型测针I最上部侧端面所在的平面过通孔的轴线且与球头相切;S型测针II2的形状与S型测针I的形状左右对称;铆钉轴4安装在S型测针I1的通孔12和S型测针II2的通孔上,使S型测针I1和S型测针II2活动连接在一起;
S型测针I最上端开有与中心对称形状所在平面平行的通槽,通槽上有两个通槽安装孔5,转轴5将毫米刻度尺3连接在通槽上的两个通槽安装孔5,并使毫米刻度尺3转到垂直时侧面不超出S型测针I最上端的侧端面;
S型测针II2最上端开有与中心对称形状所在平面平行的平底通槽22,该通槽的槽底平行于水平面,当S型测针I1和S型测针II2的上端分开时,毫米刻度尺3转到S型测针II2最上端的平底通槽22里并保持水平。
所述的S型测针I和S型测针II的中心位置的通孔直径为4~6mm,S型测针I和S型测针II下端的球头直径为0.5~2mm。
所述的毫米刻度尺3为长方形的钢质毫米刻度尺,左端部为半圆并留有孔径比转轴的外径大0.02~0.05mm的转轴安装孔。
本发明解决了圆筒形不规则舱体铸件表面壁厚测量的难题,量具构造简单易用,读数方便快捷,测量误差远小于铸造公差要求,可大幅提高舱体铸件壁厚的检测效率。
附图说明
图1、为本发明结构示意图;
图2、为本发明上端局部放大示意图;
图3、为本发明下端局部放大示意图;
图4、为本发明使用状态示意图;
图5、为本发明刻度尺局部放大立体图;
图6、为本发明刻度尺局部放大正视图;
图7、为转轴结构放大示意图;
图8、为铆钉轴结构放大示意图。
其中,1为S型测针I;2为S型测针II;3为毫米刻度尺;4为铆钉轴;5为转轴。
具体实施方式
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