[发明专利]一种基于FPGA的芯片检测方法

说明书

本发明实施例涉及芯片技术领域，公开了一种基于FPGA的芯片检测方法，包括：在仿真平台上进行仿真模型的测试用例仿真；抓取提供给所述仿真模型的输入数据、及仿真模型在所述输入数据激励下的输出数据，存储所述输入数据和所述输出数据作为参考数据；下载测试程序以及所述参考数据至FPGA；利用FPGA将所述参考数据中的输入数据发送给被测设备，获取被测设备在所述输入数据激励下的输出结果；将所述输出结果与所述参考数据中的输出数据进行对比；获取所述输出结果与所述输出数据的不同之处以作为检测错误；在仿真平台重现所述检测错误以进行错误定位。本发明实施方式所提供的基于FPGA的芯片检测方法具有准确的对芯片出现错误的部件进行定位的优点。

技术领域

本发明实施例涉及芯片技术领域，特别涉及一种基于FPGA的芯片检测方法。

背景技术

随着各式电子产品的蓬勃发展，各式芯片的应用越来越多。芯片主要包含基板和设置在基板上的集成电路，通过集成电路实现各式各样的功能。随着电子设备小型化的需求越来越大，单一芯片的功能越来越多，其上的集成电路也越来越复杂，集成电路中包含的电子元件也越来越多。在现有技术中，为了保证芯片的质量，芯片在设计成型至大批量生产的过程之间，通常包括芯片检测阶段。

然而，本发明的发明人发现，传统的芯片调试技术是基于芯片功能额外开发的一套针对功能的测试程序，其通常只能检测到芯片是否出现错误或者故障，而检测到芯片出现错误后，其并不能对芯片终端中的错误进行准确的定位，而只能通过检测人员的经验进行判断，导致芯片检测的速度较慢，效率较低。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种基于FPGA的芯片检测方法，能够准确的对芯片出现错误的部件进行定位。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种基于FPGA的芯片检测方法，包括：在仿真平台上进行仿真模型的测试用例仿真；抓取提供给所述仿真模型的输入数据、及仿真模型在所述输入数据激励下的输出数据，存储所述输入数据和所述输出数据作为参考数据；下载测试程序以及所述参考数据至FPGA；利用FPGA将所述参考数据中的输入数据发送给被测设备，获取被测设备在所述输入数据激励下的输出结果；将所述输出结果与所述参考数据中的输出数据进行对比；获取所述输出结果与所述输出数据的不同之处以作为检测错误；在仿真平台重现所述检测错误以进行错误定位。

与现有技术相比，本发明实施方式首先在仿真平台上对仿真模型进行仿真测试，抓取在仿真测试中提供给仿真模型的输入数据以及仿真模型的输出数据作为参考数据；然后将参考数据中的输入数据发送至被测设备，获取被测设备的输出结果。将输出结果和参考数据中的输出数据进行对比，由于仿真模型为理论模型，其输出数据即为正确的数据，因此，在输入数据相同的情况下，如果被测设备的输出结果与参考数据中输出数据存在不同之处，则说明被测设备中存在错误，将输出结果与输出数据的不同之处以作为检测错误，利用仿真平台重现该错误检测，由于仿真平台中可以获取仿真模型运行过程中的过程数据，从而可以根据错误检测对错误进行定位。

另外，所述存储所述输入数据和所述输出数据作为参考数据，具体为：将所述输入数据和所述输出数据存储为txt文本数据。将所述输入数据和所述输出数据存储为txt文本数据，提供了输入数据和输出数据的一种存储形式的实例。

另外，所述下载测试程序以及所述参考数据至FPGA，具体为：利用PC主机通过所述FPGA的UART接口，将所述测试程序以及所述参考数据下载至所述FPGA的存储器。

另外，所述将所述测试程序以及所述参考数据下载至所述FPGA的存储器，具体为：将所述测试程序以及所述参考数据下载至所述FPGA的SRAM。