[发明专利]基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征方法及系统

权利要求书

1.一种基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征方法，其特征在于，包括：

选取多个不同成熟度的岩心样品，对所述岩心样品进行加工制备，获得多个标样；

计算每个标样的电子束驻留时间，测量每个标样的镜质组反射率；

根据每个标样对应的所述电子束驻留时间与所述镜质组反射率，绘制电子束驻留时间-镜质组反射率交会图；

根据待测样品的电子束驻留时间与所述电子束驻留时间-镜质组反射率交会图，计算所述待测样品的镜质组反射率，实现有机质成熟度表征。

2.根据权利要求1所述的基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征方法，其中，对所述岩心样品进行加工制备包括：

分别对多个岩心样品进行机械切割、磨平与粗抛，进而进行氩离子抛光，获得多个标样。

3.根据权利要求1所述的基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征方法，其中，所述计算每个标样的电子束驻留时间包括：

针对每个标样，进行如下步骤：

采用扫描电镜的BSE探头观察所述标样，确定多个测量点，测量每个测量点的电子束驻留时间，进而计算所述标样的电子束驻留时间。

4.根据权利要求3所述的基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征方法，其中，所述采用扫描电镜的BSE探头观察所述标样，确定多个测量点，测量每个测量点的电子束驻留时间包括：

采用电子束对所述标样进行短时间驻留，获得无荷电效应图像；

根据所述无荷电效应图像对有机质进行观察，区分各有机显微组分，确定多个测量点；

针对所述标样的每一个测量点进行如下测量：

延长电子束在所述测量点的驻留时间，直到所述测量点上出现明显的荷电现象，进而获得所述标样在所述测量点的电子束驻留时间。

5.根据权利要求3所述的基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征方法，其中，根据公式(1)计算所述标样的电子束驻留时间：

其中，T_i为标样i的电子束驻留时间，i＝1，2，…，m，m为标样的总数量，T_i^j为标样i在测量点j的电子束驻留时间，j＝1，2，…，n，n为测量点的总数量。

6.一种基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征系统，其特征在于，该系统包括：

存储器，存储有计算机可执行指令；

处理器，所述处理器运行所述存储器中的计算机可执行指令，执行以下步骤：

选取多个不同成熟度的岩心样品，对所述岩心样品进行加工制备，获得多个标样；

计算每个标样的电子束驻留时间，测量每个标样的镜质组反射率；

根据每个标样对应的所述电子束驻留时间与所述镜质组反射率，绘制电子束驻留时间-镜质组反射率交会图；

根据待测样品的电子束驻留时间与所述电子束驻留时间-镜质组反射率交会图，计算所述待测样品的镜质组反射率，实现有机质成熟度表征。

7.根据权利要求6所述的基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征系统，其中，对所述岩心样品进行加工制备包括：

分别对多个岩心样品进行机械切割、磨平与粗抛，进而进行氩离子抛光，获得多个标样。

8.根据权利要求6所述的基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征系统，其中，所述计算每个标样的电子束驻留时间包括：

针对每个标样，进行如下步骤：

采用扫描电镜的BSE探头观察所述标样，确定多个测量点，测量每个测量点的电子束驻留时间，进而计算所述标样的电子束驻留时间。