[发明专利]一种镍基单晶气膜孔构件裂纹启裂判定方法

权利要求书

1.一种镍基单晶气膜孔构件裂纹启裂判定方法，其特征在于，包括：

获取所述镍基单晶气膜孔构件的局部应力；

若所述局部应力大于局部应力阈值，则判定所述镍基单晶气膜孔构件发生裂纹启裂；

其中，所述局部应力阈值的确定方法包括：

确定所述镍基单晶气膜孔构件在发生裂纹启裂时的端部应力和驻留滑移带参量；

根据所述驻留滑移带参量、所述端部应力以及预设关系式确定所述局部应力阈值；

其中，所述驻留滑移带参量为驻留滑移带长度，所述预设关系式为：

其中，σ为所述局部应力阈值，σ₀为所述端部应力，R为气膜孔的半径，L为所述驻留滑移带长度，θ为滑移平面与预设平面的夹角，r为所述驻留滑移带远离气膜孔的一端在所述预设平面上的投影和气膜孔的中心的距离，所述预设平面垂直于所述端部应力，且通过气膜孔的中心。

2.根据权利要求1所述的镍基单晶气膜孔构件裂纹启裂判定方法，其特征在于，确定所述镍基单晶气膜孔构件在发生裂纹启裂时的端部应力包括：

向所述镍基单晶气膜孔构件施加端部载荷，所述端部载荷线性增加；

确定所述镍基单晶气膜孔构件发生裂纹启裂时所对应的端部载荷，并作为端部应力。

3.根据权利要求2所述的镍基单晶气膜孔构件裂纹启裂判定方法，其特征在于，在向所述镍基单晶气膜孔构件施加端部载荷前包括：

对所述镍基单晶气膜孔构件进行表面光滑预处理。

4.根据权利要求1所述的镍基单晶气膜孔构件裂纹启裂判定方法，其特征在于，确定所述镍基单晶气膜孔构件在发生裂纹启裂时的端部应力和驻留滑移带参量包括：

在预设温度下确定所述镍基单晶气膜孔构件在发生裂纹启裂时的端部应力和驻留滑移带参量。

5.根据权利要求4所述的镍基单晶气膜孔构件裂纹启裂判定方法，其特征在于，所述预设温度为26℃、760℃、980℃或1100℃。

6.根据权利要求4所述的镍基单晶气膜孔构件裂纹启裂判定方法，其特征在于，所述镍基单晶气膜孔构件的晶体取向为[001]、[011]或[111]。

7.根据权利要求1所述的镍基单晶气膜孔构件裂纹启裂判定方法，其特征在于，确定所述镍基单晶气膜孔构件在发生裂纹启裂时的端部应力和驻留滑移带参量包括：

在高温环境下采用惰性气体保护确定所述镍基单晶气膜孔构件在发生裂纹启裂时的端部应力和驻留滑移带参量。