[发明专利]无源定标器的真实二维RCS获取方法在审
申请号: | 201910572630.9 | 申请日: | 2019-06-27 |
公开(公告)号: | CN110412567A | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 杜少岩;洪峻;王宇;郑巧娜;李一明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90;G01S7/40;G01S17/89 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 李佳 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 定标器 无源 预估 二维 点云模型 三维模型 系统参数 真实三维 网格状 测量仪器 尺寸选择 电磁仿真 仿真参数 复杂设备 激光雷达 网格形成 准确度 便携 扫描 | ||
1.一种无源定标器的真实二维RCS获取方法,其特征在于,包括:
使用3D激光雷达对待测无源定标器进行扫描,得到所述待测无源定标器的真实三维点云模型;
根据SAR系统参数与所述待测无源定标器的特征尺寸选择RCS预估方法;
依据所述RCS预估方法的要求将所述真实三维点云模型剖分成网格形成网格状三维模型;
利用所述RCS预估方法根据所述SAR系统参数对应的仿真参数,对所述网格状三维模型进行数字电磁仿真,得到所述待测无源定标器的真实二维RCS。
2.根据权利要求1所述的无源定标器的真实二维RCS获取方法,其特征在于,在所述使用3D激光雷达对待测无源定标器进行扫描之前还包括:设备准备。
3.根据权利要求2所述的无源定标器的真实二维RCS获取方法,其特征在于,所述设备准备包括:
确定待测角反射器尺寸在3D激光雷达测量范围内;
摆放所述待测量角反射器和所述3D激光雷达;
清除周围影响测量的物体或光源。
4.根据权利要求1所述的无源定标器的真实二维RCS获取方法,其特征在于,所述SAR系统参数包括SAR系统工作频率和单双站模式;所述仿真参数包括SAR系统波长和单双站模式。
5.根据权利要求4所述的无源定标器的真实二维RCS获取方法,其特征在于,所述根据SAR系统参数与所述待测无源定标器的特征尺寸选择RCS预估方法包括:
根据所述SAR系统工作频率计算得到SAR系统波长;
根据所述SAR系统波长归一化和所述待测无源定标器的特征尺寸得到表征特征尺寸大小的参数;
根据所述参数大小选择RCS预估方法。
6.根据权利要求1所述的无源定标器的真实二维RCS获取方法,其特征在于,所述表征特征尺寸大小的参数ka值的计算公式为:
其中,k为波数,a为目标的特征尺寸,λ为SAR系统的波长。
7.根据权利要求5或6所述的无源定标器的真实二维RCS获取方法,其特征在于,所述RCS预估方法包括:矩量法、多层快速多极子法、物理光学法、几何光学法、射线几何光学法、大面元物理光学法或时域有限差分法。
8.根据权利要求1所述的无源定标器的真实二维RCS获取方法,其特征在于,所述将所述真实三维点云模型剖分成网格为将所述真实三维点云模型剖分成线网格、三角形面网格、四面体体网格、六面体网格或高阶三角形网格。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电子学研究所,未经中国科学院电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910572630.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。