[发明专利]一种增强使用寿命的非易失性存储器擦除控制方法在审
申请号: | 201910573852.2 | 申请日: | 2019-06-28 |
公开(公告)号: | CN110310692A | 公开(公告)日: | 2019-10-08 |
发明(设计)人: | 顾秋萍;刘曙斌;舒海军;赵贵勇 | 申请(专利权)人: | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
主分类号: | G11C16/16 | 分类号: | G11C16/16;G06F3/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 擦除 非易失性存储器 读取 使用寿命 擦除块 多脉冲 使能 失败 成功 易失性存储器 软硬件结合 擦除指令 过程完成 结果标志 软件配置 指令操作 告知 指令 | ||
1.一种增强使用寿命的非易失性存储器擦除控制方法,其特征在于主要包括如下步骤:
步骤1、软件配置使用多脉冲擦除并使能增强读;
步骤2、系统发起擦除非易失性存储器的请求,硬件暂停CPU时钟,阻止其它指令执行;
步骤3、待擦除过程完成后,硬件用更严格的标准读取擦除块的数据,判断是否擦除成功,并把擦除结果标志位告知软件;
步骤4、如果擦除成功,则打开CPU时钟,继续后面指令操作的执行;若擦除失败,则软件发起第二次擦除指令操作直至读取到正确的数据;如果连续N次多脉冲擦除失败,则第(N+1)次软件使能正常读,正常读取擦除块的数据,若成功,则认为擦除成功,否则擦除过程失败,其中N可以预先设置。
2.根据权利要求1所述的非易失性存储器擦除控制方法,其特征在于,所述步骤1:软件可以配置选择采用正常的擦除,即擦除时间增加确保此段时间内可以擦除成功;此外,软件也可以配置选择多脉冲擦除,采用较短的时间进行对非易失性存储器的擦除,保证大多数块在这段时间内可以擦除成功;然后软件使能增强读,即根据非易失性存储器特性使用更严格的标准,例如更大的参考电流来读取擦除块的数据。
3.根据权利要求1所述的非易失性存储器擦除控制方法,其特征在于,所述步骤2:软件在配置好擦除操作特性参数之后,发起擦除非易失性存储器的请求,此时硬件立即停止CPU的时钟,即取指操作暂停,软件暂停工作,此时全部工作交给硬件执行。
4.根据权利要求1所述的非易失性存储器擦除控制方法,其特征在于,所述步骤3:硬件控制多脉冲擦除过程,待擦除结束后,硬件采用更严格的标准读取擦除块的数据,硬件判断是否擦除成功并把擦除结果标志位告知软件。
5.根据权利要求1所述的非易失性存储器擦除控制方法,其特征在于,所述步骤4:软件在发起擦除非易失性存储器的请求指令后,就一直进入查询擦除结果标志位状态,如果擦除成功,则打开CPU时钟,软件查询到擦除操作成功后,继续后面指令操作的取指译码执行操作;如果查询到擦除失败,则软件发起第二次擦除指令操作直至读取到正确的数据;如果第N次多脉冲擦除还失败,则第(N+1)次软件使能正常读,正常读取擦除块的数据,若成功,则认为擦除成功,否则擦除过程失败,其中N可以预先设定。
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