[发明专利]利用双侧向曲线计算致密储层裂缝孔隙度的方法和装置

权利要求书

1.一种利用双侧向曲线计算致密储层裂缝孔隙度的方法，其特征在于，所述方法包括：

确定目标储层为裂缝型气层；

根据下列计算公式计算针对裂缝型气层的双侧向响应校正参数Δg：

其中，R_d为深侧向侧井值，R_s为浅侧向测井值，avg(R_d/R_s)_{无裂缝气层}表示目的工区内所有无裂缝气层测井的(R_d/R_s)的平均值，avg(R_d/R_s)_{有裂缝气层}表示目的工区内所有有裂缝气层测井的(R_d/R_s)的平均值；

根据下列校正公式对裂缝型气层的深侧向测井值进行校正，得到校正后的深侧向测井值

采用校正后的深侧向测井值计算目的储层的孔隙度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：基于裂缝气层的双侧向曲线和裂缝干层双侧向曲线的特征对比，得到双侧向响应校正参数Δg的计算公式和深侧向测井值的校正公式，其中，所述特征对比包括：

对于高角度裂缝型气层，双侧向曲线具有明显正差异，具有“双轨”现象；

对于中低角度裂缝型气层，双侧向曲线电阻利率降低，具有明显正差异，具有“双轨”现象；

对于高角度裂缝型干层，双侧向曲线具有正差异，且其正差异具有收敛性；

对于中低角度裂缝型干层，双侧向曲线基本重合，局部偶见收敛性差异。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据裂缝气层的双侧向曲线和裂缝干层的双侧向曲线的特征对比，区分测井为裂缝型气层还是裂缝型干层。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用校正后的深侧向测井值计算目的储层的孔隙度包括：

根据下式计算目的储层的裂缝孔隙度φ_f：

其中，R_s的单位为Ω·m；R_mf为泥浆滤液电阻率，单位为Ω·m；A₁、A₂、A₃为常数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据下式计算裂缝状态Y：

根据裂缝状态Y确定对应的常数A₁、A₂、A₃。

6.一种利用双侧向曲线计算致密储层裂缝孔隙度的装置，其特征在于，所述装置包括：

储层筛选单元，用于确定目标储层为裂缝型气层；

校正参数计算单元，用于根据下列计算公式计算针对裂缝型气层的双侧向响应校正参数Δg：

其中，R_d为深侧向侧井值，R_s为浅侧向测井值，avg(R_d/R_s)_{无裂缝气层}表示目的工区内所有无裂缝气层测井的(R_d/R_s)的平均值，avg(R_d/R_s)_{有裂缝气层}表示目的工区内所有有裂缝气层测井的(R_d/R_s)的平均值；

深侧向测井值校正单元，用于根据下列校正公式对裂缝型气层的深侧向测井值进行校正，得到校正后的深侧向测井值

孔隙度计算单元，用于孔隙度采用校正后的深侧向测井值计算目的储层的孔隙度。