[发明专利]调试半导体装置的方法及系统

权利要求书

1.一种方法，其包括：

用至少部分在裸片上实施的存储器装置接收指令以启用调试操作模式；以及

响应于接收所述指令：

修改所述裸片的第一非测试引脚的功能性，以使调试数据能够通过所述裸片的所述第一非测试引脚发射到所述裸片外部的调试组件；

使用在所述裸片的第二非测试引脚处接收的信号建立调试时钟信号；以及

使用所述裸片的所述第一及第二非测试引脚在所述裸片与所述调试组件之间交换包含所述调试数据的信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其中接收所述指令包括在所述裸片的正常操作模式期间通过所述裸片的数据总线接收包含所述指令的命令。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一非测试引脚包括所述裸片的复位引脚，且其中所述第二非测试引脚包括所述裸片的参考时钟引脚。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述裸片放置在电路板上，其中所述裸片包含未耦合到所述电路板的调试引脚，且其中使用所述第一及第二非测试引脚而不是所述调试引脚与所述调试组件交换所述信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其中修改所述第一非测试引脚的所述功能性包括将所述第一非测试引脚从作为单向引脚操作改变为作为双向引脚操作。

6.根据权利要求1所述的方法，其中建立所述调试时钟包括：

用所述存储器装置接收参考时钟信号作为在所述第二非测试引脚处接收的所述信号；

确定与对应于所述调试组件的调试协议相关联的时钟频率；

使所述参考时钟信号偏斜以匹配所述时钟频率以建立所述调试时钟；以及

将所述偏斜参考时钟信号施加到与所述存储器装置相关联的实施在所述裸片上的调试装置。

7.根据权利要求1所述的方法，其中交换所述信息包括：

存取所述存储器装置的内部数据结构以获得所述调试数据；以及

通过所述第一非测试引脚将所述获得数据发射到所述调试组件。

8.根据权利要求7所述的方法，其进一步包括：

通过所述第一非测试引脚从所述调试组件接收所述信息；以及

基于所述接收信息修改所述内部数据结构的内容。

9.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括基于所述交换信息确定所述存储器装置的故障点。

10.根据权利要求1所述的方法，其中所述外部组件包括cJTAG接口，其中所述第一非测试引脚包括通用快闪存储UFS RST_N引脚，并且所述第二非测试引脚包括UFS REF_CLK引脚。

11.一种系统，其包括：

控制电路，其经配置以：

用至少部分在裸片上实施的存储器装置接收指令以启用调试操作模式；以及

响应于接收所述指令：

修改所述裸片的第一非测试引脚的功能性，以使调试数据能够通过所述裸片的所述第一非测试引脚发射到所述裸片外部的调试组件；

使用在所述裸片的第二非测试引脚处接收的信号建立调试时钟信号；以及

使用所述裸片的所述第一及第二非测试引脚在所述裸片与所述调试组件之间交换包含所述调试数据的信息。

12.根据权利要求11所述的系统，其中所述控制电路经配置以通过在所述裸片的正常操作模式期间通过所述裸片的数据总线接收包含所述指令的命令来接收所述指令。

13.根据权利要求11所述的系统，其中所述第一非测试引脚包括所述裸片的复位引脚，且其中所述第二非测试引脚包括所述裸片的参考时钟引脚。