[发明专利]一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法、装置及设备有效

专利信息
申请号: 201910579319.7 申请日: 2019-06-28
公开(公告)号: CN110370092B 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 刘金武;王平;张梁;易子超 申请(专利权)人: 厦门理工学院
主分类号: B24B1/00 分类号: B24B1/00
代理公司: 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙) 35222 代理人: 陈槐萱
地址: 361024 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 纵磨外圆 轴向 表面 粗糙 确定 方法 装置 设备
【说明书】:

发明提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法,包括:根据纵磨砂轮的参数、根据纵磨外圆的加工工艺参数,建立纵磨外圆加工结构模型;根据所述纵磨外圆加工结构模型,获取所述纵磨砂轮的磨粒分布图及磨粒参数;根据所述磨粒分布图及磨粒参数,建立磨粒轨迹螺纹线;根据所述磨粒轨迹螺纹线,获取纵磨外圆轴向表面粗糙度。基于本发明提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法、装置及设备,能直观的反映出纵磨砂轮轴向表面的粗糙度,以及粗糙度与纵磨砂轮的参数、加工工艺参数的之间的直接影响,便于磨削精度和效率的提高。

技术领域

本发明涉及粗糙度测量领域,特别涉一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法、装置及设备。

背景技术

在工件加工领域,工件表面粗糙度影响工件寿命、密封性、和自身加工精度的提高。纵磨外圆轴向表面粗糙度决定着工件表面的粗糙度,因此,确定纵磨外圆轴向表面粗糙度就显得至关重要。

在现有技术中,采用实验法,利用表面粗糙度仪测量表面粗糙度,但是实验成本高,并难于建立表面粗糙度与工件参数、砂轮组织、砂轮参数和磨削加工工艺参数等主要影响因素之间的直接关系,对磨削精度和效率提高、磨削技术提高不利。采用三坐标测量法可以测量表面三维坐标,构建表面三维模型,也是实验成本高,效率低,也难于反映表面粗糙度与工件参数、砂轮组织、砂轮参数和磨削加工工艺参数等主要影响因素之间的直接关系,影响磨削精度和效率的提高,影响磨削技术进步。

发明内容

本发明提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法、装置及设备,能直观的反映出纵磨砂轮轴向表面的粗糙度,以及粗糙度与纵磨砂轮的参数、加工工艺参数的之间的直接影响,便于磨削精度和效率的提高。

本发明第一实施例提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法,包括:

根据纵磨砂轮的参数、根据纵磨外圆的加工工艺参数,建立纵磨外圆加工结构模型;

根据所述纵磨外圆加工结构模型,获取所述纵磨砂轮的磨粒分布图及磨粒参数;

根据所述磨粒分布图及磨粒参数,建立磨粒轨迹螺纹线;

根据所述磨粒轨迹螺纹线,获取纵磨外圆轴向表面粗糙度。

优选地,所述纵磨砂轮的参数包括:所述纵磨砂轮的宽度及所述纵磨砂轮的直径。

优选地,所述纵磨外圆的加工工艺参数包括:所述纵磨砂轮的转速、所述纵磨砂轮的径向进给量、所述纵磨砂轮的轴向进给量、工件的转速、工件的直径以及磨削余量。

优选地,所述根据所述磨粒分布图及磨粒参数,建立磨粒轨迹螺纹线具体为:

根据纵磨砂轮的组织结构,绘制所述磨粒分布图,并在所述磨粒分布图建立XOY坐标系,模拟所述纵磨砂轮及工件的相对运动,在所述纵磨砂轮的轴向进给量内获取所述磨粒轨迹螺纹线。

优选地,所述纵磨砂轮与工件的相对运动为螺旋运动。

优选地,所述磨粒参数包括:所述磨粒的直径及周向相邻所述磨粒的间距。

优选地,所述根据所述磨粒轨迹螺纹线,获取纵磨外圆轴向表面粗糙度,具体为:

获取相邻两条所述磨粒轨迹螺纹线的轴向间距,运算获得未被切除的余高区沿Y轴方向的高度,即获得纵磨外圆轴向表面的粗糙度。

本发明第二实施例提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定装置,包括:

纵磨外圆加工结构模型建立单元,用于根据纵磨砂轮的参数、根据纵磨外圆的加工工艺参数,建立纵磨外圆加工结构模型;

纵磨砂轮磨粒分布图获取单元,用于根据所述纵磨外圆加工结构模型,获取所述纵磨砂轮的磨粒分布图及磨粒参数;

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