[发明专利]一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法、装置及设备有效
申请号: | 201910579319.7 | 申请日: | 2019-06-28 |
公开(公告)号: | CN110370092B | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 刘金武;王平;张梁;易子超 | 申请(专利权)人: | 厦门理工学院 |
主分类号: | B24B1/00 | 分类号: | B24B1/00 |
代理公司: | 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙) 35222 | 代理人: | 陈槐萱 |
地址: | 361024 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纵磨外圆 轴向 表面 粗糙 确定 方法 装置 设备 | ||
本发明提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法,包括:根据纵磨砂轮的参数、根据纵磨外圆的加工工艺参数,建立纵磨外圆加工结构模型;根据所述纵磨外圆加工结构模型,获取所述纵磨砂轮的磨粒分布图及磨粒参数;根据所述磨粒分布图及磨粒参数,建立磨粒轨迹螺纹线;根据所述磨粒轨迹螺纹线,获取纵磨外圆轴向表面粗糙度。基于本发明提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法、装置及设备,能直观的反映出纵磨砂轮轴向表面的粗糙度,以及粗糙度与纵磨砂轮的参数、加工工艺参数的之间的直接影响,便于磨削精度和效率的提高。
技术领域
本发明涉及粗糙度测量领域,特别涉一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法、装置及设备。
背景技术
在工件加工领域,工件表面粗糙度影响工件寿命、密封性、和自身加工精度的提高。纵磨外圆轴向表面粗糙度决定着工件表面的粗糙度,因此,确定纵磨外圆轴向表面粗糙度就显得至关重要。
在现有技术中,采用实验法,利用表面粗糙度仪测量表面粗糙度,但是实验成本高,并难于建立表面粗糙度与工件参数、砂轮组织、砂轮参数和磨削加工工艺参数等主要影响因素之间的直接关系,对磨削精度和效率提高、磨削技术提高不利。采用三坐标测量法可以测量表面三维坐标,构建表面三维模型,也是实验成本高,效率低,也难于反映表面粗糙度与工件参数、砂轮组织、砂轮参数和磨削加工工艺参数等主要影响因素之间的直接关系,影响磨削精度和效率的提高,影响磨削技术进步。
发明内容
本发明提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法、装置及设备,能直观的反映出纵磨砂轮轴向表面的粗糙度,以及粗糙度与纵磨砂轮的参数、加工工艺参数的之间的直接影响,便于磨削精度和效率的提高。
本发明第一实施例提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法,包括:
根据纵磨砂轮的参数、根据纵磨外圆的加工工艺参数,建立纵磨外圆加工结构模型;
根据所述纵磨外圆加工结构模型,获取所述纵磨砂轮的磨粒分布图及磨粒参数;
根据所述磨粒分布图及磨粒参数,建立磨粒轨迹螺纹线;
根据所述磨粒轨迹螺纹线,获取纵磨外圆轴向表面粗糙度。
优选地,所述纵磨砂轮的参数包括:所述纵磨砂轮的宽度及所述纵磨砂轮的直径。
优选地,所述纵磨外圆的加工工艺参数包括:所述纵磨砂轮的转速、所述纵磨砂轮的径向进给量、所述纵磨砂轮的轴向进给量、工件的转速、工件的直径以及磨削余量。
优选地,所述根据所述磨粒分布图及磨粒参数,建立磨粒轨迹螺纹线具体为:
根据纵磨砂轮的组织结构,绘制所述磨粒分布图,并在所述磨粒分布图建立XOY坐标系,模拟所述纵磨砂轮及工件的相对运动,在所述纵磨砂轮的轴向进给量内获取所述磨粒轨迹螺纹线。
优选地,所述纵磨砂轮与工件的相对运动为螺旋运动。
优选地,所述磨粒参数包括:所述磨粒的直径及周向相邻所述磨粒的间距。
优选地,所述根据所述磨粒轨迹螺纹线,获取纵磨外圆轴向表面粗糙度,具体为:
获取相邻两条所述磨粒轨迹螺纹线的轴向间距,运算获得未被切除的余高区沿Y轴方向的高度,即获得纵磨外圆轴向表面的粗糙度。
本发明第二实施例提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定装置,包括:
纵磨外圆加工结构模型建立单元,用于根据纵磨砂轮的参数、根据纵磨外圆的加工工艺参数,建立纵磨外圆加工结构模型;
纵磨砂轮磨粒分布图获取单元,用于根据所述纵磨外圆加工结构模型,获取所述纵磨砂轮的磨粒分布图及磨粒参数;
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