[发明专利]基于云模型优化PNN的模拟电路故障诊断方法有效
申请号: | 201910583230.8 | 申请日: | 2019-07-01 |
公开(公告)号: | CN110244216B | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 谈恩民;张欣然 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | G01R31/316 | 分类号: | G01R31/316;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 | 代理人: | 覃永峰 |
地址: | 541004 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 模型 优化 pnn 模拟 电路 故障诊断 方法 | ||
1.一种基于云模型优化PNN的模拟电路故障诊断方法,其特征在于:通过构建CM-PNN模型进行故障诊断,包括如下步骤:
步骤A.提取电路故障特征,获得特征样本;
步骤B.将特征样本分训练样本和测试样本,注意训练样本数目必须足够多,且远远大于测试样本数目,否则建立的正态云模型将无法正确反映样本分布;
步骤C.利用训练样本进行峰值云变换以建立多维正态云模型,将其作为模式神经元;
步骤D.确定模式层与求和层之间的连接权重;
步骤E.将测试样本输入到优化后的概率神经网络中进行加权求和;
步骤F.故障类别判别输出,输出结果判定为输出最大的故障类别;
所述步骤C中建立多维正态云模型,包括如下步骤:
步骤1.训练样本x进行峰值云变换,首先统计样本数据在各个区间内的频数,获得样本数据分布曲线F(x),然后根据下述步骤分离出n个正态云模型C(x),即:
式(2)中,Ci(x)表示第i朵正态云模型,peaki表示第i朵正态云模型的峰值,n表示分离出的正态云模型数目:
(1)在训练样本x中,寻找其最大值a和最小值b,并确定区间数目t,根据公式(3)确定区间范围u,统计样本数据在各个区间内的频数以获得频率分布直方图,连接每个区间顶部的中心,绘制出样本数据分布曲线F(x);
(2)寻找样本数据分布曲线F(x)的波峰,波峰的纵坐标记为peak,波峰的横坐标作为期望Ex,阈值为t时,统计在区间[Ex-t,Ex+t]内的频数,根据公式(4),计算熵En和超熵He并获得期望曲线f(x),
式(4)中,S表示训练样本x的方差,En′表示以熵En为期望值,以超熵He为标准差的正态随机数;
(3)根据得到的(Ex,En,He),利用正态云发生器算法生成若干个正态云模型C(x);
(4)从样本数据分布曲线F(x)中减去期望曲线f(x),得到新的样本数据分布曲线F(x)’,重复步骤(2)和步骤(3),直至波峰的纵坐标peak小于设定的频率阈值;
步骤2.建立多维正态云作为PNN的模式神经元:在每种故障模式下,对每维属性任意选取一朵正态云模型进行组合,构造多维云模型作为模式层基函数,故障类别i的第j个正态云模型的中心为(Exi1,Exi2...Exih),带宽为(Eni1,Eni2...Enih),输出Mij为:
式(5)中,h表示正态云模型的维数,Exik表示在故障类别i下,第j个正态云模型的第k维中心,Enik′表示在故障类别i下,第j个正态云模型的第k维带宽。
2.根据权利要求1所述的基于云模型优化PNN的模拟电路故障诊断方法,其特征在于,所述步骤D确定模式层与求和层之间的连接权重,包括如下步骤:
故障类别i的第j个模式神经元到相应求和神经元的权重kij为:
式(6)中,peakij表示故障类别i的第j个模式神经元的峰值,b表示故障类别i的模式神经元总数目。
3.根据权利要求1所述的基于云模型优化PNN的模拟电路故障诊断方法,其特征在于,所述步骤E即模式层的输出向量进行加权求和,包括如下步骤:
模式层的输出向量进行加权求和得到求和层,一个求和神经元代表一种故障模式,第i个求和神经元的输出Oi为:
4.根据权利要求1所述的基于云模型优化PNN的模拟电路故障诊断方法,其特征在于,所述步骤F即故障类别判定,包括如下步骤:
根据公式(8),输出结果Y判定为输出最大的求和神经元所对应的故障类别,
Y=arg max(Oi) (8)。
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