[发明专利]一种形式验证断言空泛性的测试和自动纠正方法、存储介质和终端

说明书

本发明涉及一种形式验证断言空泛性的测试和自动纠正方法、存储介质和终端，方法包括如下步骤：将断言的每一子表达式分别置为0和1后进行综合并做自动机最小化处理，得到的两个结果若相同则认为断言具有空泛性。本发明基于最广泛的空泛性定义，增加了测试的完整性；同时由于所使用的综合过程和最小化的可确定性，两个结果只需要进行结构对比，效率很高。

技术领域

本发明涉及一种形式验证断言空泛性的测试和自动纠正方法、存储介质和终端。

背景技术

形式验证是一种基于逻辑建模和数学推理证明的芯片功能验证技术，是对传统仿真验证的补充并在很多场景正在取代仿真。由于形式验证技术的独特性，其在芯片设计验证流程中的应用存在不少障碍，第一个就是如何生成正确和准确的断言。断言分为约束和属性两种。前者定义了被测设计的输入环境，后者是形式验证的对象-即这些属性在设计的所有在输入约束允许的运行状态和运行路径下是否都成立。

由于断言语言的复杂性和高表述力，以及断言和所测设计间的相互作用，断言经常会隐藏一些开发者自己没有意识到的语义，其中最常见的一类就是空泛性。带有空泛性的断言往往表面断言本身不够准确，或者断言和设计之间的交互作用出现了问题。现在商业的形式验证工具只针对一种空泛性进行测试，就是因果空泛性。在A-》B形式的断言中，如果A不成立，那么整个断言的成立与B是否成立并没有关系。从断言本身看A的不成立不是预期的，而针对B是否成立的测试因为A的不成立并没有实施。现有工具针对因果形式的断言会做两项验证，一是A的可达性，即A是可以成立的。二是整个断言是否成立。A不可达的情况下断言的成立被称为空泛的成立。这种方法有两个问题。第一它只针对因果空泛，缺乏完整性。第二每个断言它会做两次验证，降低了效率。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种形式验证断言空泛性的测试和自动纠正方法、存储介质和终端。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：

本发明的第一方面，提供一种形式验证断言空泛性的测试和自动纠正方法，包括如下步骤：

将断言的每一子表达式分别置为0和1后进行综合并做自动机最小化处理，得到的两个结果若相同则认为断言具有空泛性。

进一步地，所述方法还包括：

将逻辑电路加入断言形成新断言；

将新断言的每一子表达式分别置为0和1后进行综合并做自动机最小化处理，得到的两个结果若相同则认为断言具有空泛性。

进一步地，所述将逻辑电路加入断言形成新断言包括：

逐步增加逻辑电路，以形成新断言。

进一步地，所述逐步增加逻辑电路的前提是在不具有空泛性的情况下。

进一步地，所述逐步增加逻辑电路为增加逻辑电路的深度和/或设计模块的深度。

进一步地，所述逐步增加逻辑电路，根据用户设定的计算资源，包括设定最大计算时间和最大可用内存，决定增加逻辑的数量和最终的测试的程度。

进一步地，所述方法还包括：

纠正断言，对使得断言具有空泛性的子表达式置0或1。

进一步地，在所述纠正断言之前还包括：

接收多余子表达式不是错误的确认信息。

本发明的第二方面，提供一种存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行所述的一种形式验证断言空泛性的测试和自动纠正方法的步骤。

本发明的第三方面，提供一种终端，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行所述的一种形式验证断言空泛性的测试和自动纠正方法的步骤。