[发明专利]光学系统和图像拾取装置有效
申请号: | 201910587056.4 | 申请日: | 2019-07-01 |
公开(公告)号: | CN110687666B | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 前瀧聪 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G02B13/02 | 分类号: | G02B13/02;G02B13/18;G02B27/00;G02B27/16 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 杨小明 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学系统 图像 拾取 装置 | ||
本发明涉及光学系统和图像拾取装置。根据示例实施例的光学系统包括具有正折光力的第一透镜单元和设置在第一透镜单元的像侧且具有正折光力的第二透镜单元。当从无穷远聚焦到近距离物体时,第二透镜单元移动。第二透镜单元包括按从物侧朝向像侧的顺序设置的第一正透镜、孔径光阑和第二正透镜。第一正透镜和第二正透镜的异常部分色散性被定义。
技术领域
实施例的方面涉及光学系统和图像拾取装置。
背景技术
需要具有小(亮)F数、尺寸小且具有高光学性能的图像拾取光学系统作为在诸如数字照相机或胶片照相机的图像拾取装置中使用的图像拾取光学系统。
通常,随着图像拾取光学系统的总透镜长度变短,每个透镜的折光力变得更强,诸如轴上色差和倍率色差的色差增加,并且光学性能容易变低。此外,随着F数变小,由于景深变浅,各种像差对图像质量的影响变大。
在大孔径比光学系统中,在许多情况下,具有相对强的正折光力的透镜单元设置在物侧以会聚光束。然而,在上述透镜单元中,旁轴边缘光束通过的透镜单元中的位置高;因此,在大孔径比光学系统中可能出现轴上色差。
US2018/0024315公开了一种光学系统,其包括具有正折光力的第一透镜单元、具有正折光力的第二透镜单元以及具有正折光力的第三透镜单元,其中由具有异常部分色散性的材料形成的透镜相对地设置在物侧。
根据所设置的位置,在校正色差方面有效的具有异常部分色散性的材料能够校正倍率色差。然而,如US2018/0024315中一样,当在正折光力强的位置处使用由具有异常部分色散性的材料形成的透镜时,倍率色差倾向于变得被过度校正。
发明内容
根据实施例的一个方面的光学系统包括具有正折光力的第一透镜单元和具有正折光力的第二透镜单元。在所述光学系统中,相邻透镜单元之间的距离在聚焦期间改变,第二透镜单元在从无穷远聚焦到近距离物体期间朝向物侧移动,第二透镜单元包括按从物侧朝向像侧的顺序设置的第一正透镜、孔径光阑和第二正透镜。当材料的异常部分色散性ΔθgF使用材料的阿贝常数vd和材料的部分色散率θgF由
ΔθgF=θgF-(-1.665×10-7×vd3+5.213×10-5×vd2-5.656×10-3×vd+7.278×10-1)表示时,
满足以下条件式:
0.0050<ΔθgF1<0.40;以及
0.0050<ΔθgF2<0.40
其中,ΔθgF1是第一正透镜的材料的异常部分色散性,并且ΔθgF2是第二正透镜的材料的异常部分色散性。
根据下面参照附图对示例性实施例的描述,本公开的另外的特征将变得清楚。
附图说明
图1是第一示例实施例的光学系统的横截面图。
图2A是当光学系统聚焦到无穷远时的纵向像差图。
图2B是当光学系统聚焦到最近距离处的物体时的纵向像差图。
图3是第二示例实施例的光学系统的横截面图。
图4A是当光学系统聚焦到无穷远时的纵向像差图。
图4B是当光学系统聚焦到最近距离处的物体时的纵向像差图。
图5是第三示例实施例的光学系统的横截面图。
图6A是当光学系统聚焦到无穷远时的纵向像差图。
图6B是当光学系统聚焦到最近距离处的物体时的纵向像差图。
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