[发明专利]基于光致变色效应的紫外线辐射累计计量方法

权利要求书

1.应用于紫外线辐射累计计量的光致变色材料，其特征在于，所述光致变色材料为无定型二氧化钛纳米管阵列薄膜。

2.一种基于光致变色效应的紫外线辐射累计计量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、制备无定型二氧化钛纳米管阵列薄膜作为显色薄膜，取N个相同条件下制备的显色薄膜，在相同功率的紫外光下照射不同的时间，得到N个显示不同颜色的比色卡；然后根据照射时间与紫外光的功率计算得到对应的辐射量，即可得到颜色与辐射量之间的对应关系；

步骤2、将步骤1制备的同一批次的无定型二氧化钛纳米管阵列薄膜在待测光下照射一定时间，得到的薄膜与步骤1的比色卡进行对比，即可得到待测光中紫外线的累计辐射量。

3.根据权利要求2所述基于光致变色效应的紫外线辐射累计计量方法，其特征在于，步骤1所述无定型二氧化钛纳米管阵列薄膜的制备过程具体为：

1)将氟化物加入醇类溶剂和去离子水形成的混合溶剂中，搅拌混合均匀，得到氟化物的质量百分比为0.3wt％～0.5wt％的含氟电解液；

2)将金属钛片依次在丙酮、无水乙醇和去离子水中超声清洗，烘干待用；

3)将步骤2)清洗干净的金属钛片作为阳极，惰性金属片作为阴极，步骤1)配制的含氟电解液作为电解液，采用阳极氧化法在阳极的金属钛片上制备无定型TiO₂纳米管阵列薄膜；其中，阳极氧化电压为50～60V，阳极氧化的时间为1～2h；

4)将步骤3)得到的TiO₂纳米管阵列取出，在无水乙醇中浸泡10～16h后，在70～100℃温度下烘干，即可得到所述无定型二氧化钛纳米管阵列薄膜。

4.根据权利要求3所述的基于光致变色效应的紫外线辐射累计计量方法，其特征在于，步骤1)所述氟化物为氟化铵、氟化钠或氟化钾，所述醇类溶剂为乙二醇或丙三醇。

5.根据权利要求3所述的基于光致变色效应的紫外线辐射累计计量方法，其特征在于，步骤3)所述惰性金属片为铂片或钛片。