[发明专利]图像的处理方法、处理装置及终端

说明书

本发明适用于显微热成像技术领域，提供了一种图像的处理方法、处理装置、终端及计算机可读存储介质。其中，所述处理方法包括：获取被测目标的多帧初始图像；确定所述多帧初始图像的参考图像；基于所述参考图像对所述多帧初始图像进行图像配准，得到多帧配准图像；从所述多帧配准图像中选取相关度符合预设要求的两帧以上的配准图像作为所述被测目标的可用图像。本发明可用于对显微热成像得到的显微热图像进行偏移修正，有利于提高利用显微热成像进行非接触式温度测量的测量准确性。

技术领域

本发明属于显微热成像技术领域，尤其涉及一种图像的处理方法、处理装置、终端及计算机可读存储介质。

背景技术

光反射热成像是一种非接触式测温技术，其基础是光热反射现象，其基本特征是物体的反射率会随物体的温度变化而变化。由于反射率随温度的变化可以认为是线性的，可以用光热反射系数(Thermo reflectance coefficience)来表征反射率随温度的变化。

为了实现高空间分辨力的显微热成像，通常采用基于高性能的光学显微镜来组建显微光反射热成像装置。利用光学显微镜的照明系统提供探测光，使用高性能相机记录显微成像，并根据显微成像获得的显微热图像计算光热反射系数，进而实现温度的非接触式测量。

为了保证测量精度，通常需要对被测目标进行多次测量得到多帧显微热图像，并根据得到的多帧显微热图像确定最终的测量结果。然而，在多次测量的过程中，由于显微光反射热成像装置的振动、位置漂移或热对流等影响因素的存在，各次测量所得图像之间往往存在偏移；另外，受被测目标的封装方式或者夹具、热台等测量部件的热膨胀影响，温度变化前后的图像也会存在偏移。

受上述偏移的影响，直接拍摄记录的显微热图像的成像效果往往达不到要求，例如，在被测目标(例如电路板芯片)的材料交界和结构边沿等位置，由于图像灰度存在陡峭变化，使得微小的像素偏移也可能导致显著的测量误差，特别是在高分辨力下可能导致大片图像区域数据无效，严重影响测量的准确性。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种图像的处理方法、处理装置、终端及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中直接拍摄获得的多帧图像之间存在的偏移问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种图像的处理方法，该处理方法包括：

获取被测目标的多帧初始图像；

确定所述多帧初始图像的参考图像；

基于所述参考图像对所述多帧初始图像进行图像配准，得到多帧配准图像；

从所述多帧配准图像中选取相关度符合预设要求的两帧以上的配准图像作为所述被测目标的可用图像。

本发明实施例的第二方面提供了一种图像的处理装置，该处理装置包括：

获取单元，用于获取被测目标的多帧初始图像；

确定单元，用于确定所述获取单元获取的所述多帧初始图像的参考图像；

配准单元，用于基于所述确定单元确定的所述参考图像对所述获取单元获取的所述多帧初始图像进行图像配准，得到多帧配准图像；

第一选取单元，用于从所述多帧配准图像中选取相关度符合预设要求的两帧以上的配准图像作为所述被测目标的可用图像。

本发明实施例的第三方面提供了一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如任一项所述图像的处理方法的步骤。

本发明实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如任一项所述图像的处理方法的步骤。

本发明与现有技术相比存在的有益效果是：