[发明专利]一种光电化学分析装置及方法

权利要求书

1.一种光电化学分析装置，其特征在于，所述光电化学分析装置设置有：

转盘盒；

转盘盒左侧通过狭缝出口与单色器连为一体，单色器左侧放置有氙灯；

暗室内部通过螺栓固定有转盘盒，转盘盒内部通过螺栓与电动转盘连接；转盘盒右侧通过螺栓固定有滑轨，滑轨上卡接有检测池，检测池侧面设置有光窗。

2.如权利要求1所述的光电化学分析装置，其特征在于，所述电动转盘的周边分布2个-32个若干个孔位，孔位中开有一个为转盘上的通孔；

其它孔位用于放置发光二极管LED及附属聚焦透镜组件、激光二极管LD及附属聚焦透镜组件或滤光片组件。

3.如权利要求1所述的光电化学分析装置，其特征在于，所述转盘盒与单色器的连接面有一个入光通孔，转盘盒与检测池暗室的连接面有一个出光通孔，入光通孔和出光通孔与转盘静止时某个特定位置的孔位同轴，且通孔直径与转盘上孔位的直径相同。

4.一种基于权利要求1所述光电化学分析装置的光电化学分析方法，其特征在于，所述光电化学分析方法包括：转盘盒与单色器的连接面有一个入光通孔，多功能转盘盒与检测池暗室的连接面有一个出光通孔，两个通孔与转盘静止时某个特定位置的孔位同轴，且通孔直径与转盘上孔位的直径相同；当转盘上的通孔与两个侧面的通孔同轴时，由单色器发出的任意波长光依次透过三个通孔，以及检测池侧面的光窗，到达检测池内部工作电极表面。

5.如权利要求4所述的光电化学分析方法，其特征在于，所述光电化学分析方法还包括：当装有滤光片组件的孔位与两个侧孔同轴时，对氙灯+单色器光源进行滤波，当带有发光二极管组件或带有激光二极管组件与侧壁的两个通孔同轴时，此时转盘上的发光二极管、激光二极管作为激发光源，发出的光依次透过出光通孔、以及检测池侧面的光窗，到达检测池内部的工作电极的表面。