[发明专利]用于消除DLL使用LDU单元带来毛刺的系统及方法

说明书

本发明公开了一种用于消除DLL使用LDU单元带来毛刺的系统。包括B2T延迟电路和DCDL。该延迟电路包括：延迟单元、或非门、与非门、反相器和缓冲器。一种用于消除DLL使用LDU单元带来毛刺的方法，包括下列步骤：对B2T产生的温度计码进行延迟处理，使处理后的温度计码慢于未处理的温度计码时间间隔td3；将处理后的温度计码与未处理的温度计码进行或非运算后取反得到第一控制信号；将处理后的温度计码与未处理的温度计码进行与非运算后得到第二控制信号；通过第一控制信号和第二控制信号控制DCDL的LDU激活数目。通过动态延迟控制码，消除了LDU进行信号延迟处理的过程中，切换控制码带来的输出信号上的毛刺。

技术领域

本发明涉及信号延迟领域，尤其涉及一种用于消除DLL使用LDU单元带来毛刺的系统及方法。

背景技术

目前，延迟锁相环DLL(delay-locked loop)被广泛地应用于现代微处理器芯片和片上系统的设计中，例如动态随机存储器接口DRAM、时钟产生与分布电路等。虽然传统的模拟DLL具有低抖动和较小静态相位差的特点，随着cmos器件特征尺寸不断缩小，数字DLL现在被更多的采用。与模拟DLL相比，数字DLL对环境变化不敏感，更适用于低电压、低功耗的现代微处理器和片上系统的设计上。DLL的基本结构见图1。在数字DLL中，数控延迟线DCDL(Digital-Controlled Delay Line)用来代替压控延迟线VCDL(voltage-controlleddelay line)实现延迟的功能。在多种DCDL的结构中，晶格延迟单元LDU(Lattice DelayUnit)被广泛地采用。使用LDU的DCDL在切换code时有可能会给输出时钟带来毛刺glitch。

发明内容

本发明的目的在于解决现有技术存在的缺陷。

为达到上述目的，本发明公开了一种用于消除DLL使用LDU单元带来毛刺的系统及及方法。

一方面，该系统包括：二进制-温度计码译码器B2T(Binary to Thermometer)、延迟电路和DCDL。其中，延迟电路用于接收B2T输出的多组温度计码，并对多组温度计码进行延迟处理，将处理后的温度计码作为多组控制码输出到DCDL的控制端。

每组控制码包括第一控制信号和第二控制信号。

延迟电路提供动态的时间延迟td3，在第一控制信号提供的控制码由0切换为1时，使第二控制信号晚于第一控制信号td3后切换；在第一控制信号提供的控制码由1切换为0时，使第二控制信号早于第一控制信号td3后切换。

优选地，延迟电路包括多个子电路，每个子电路包括：延迟单元、或非门、与非门、反相器和缓冲器；其中，延迟单元的输入端、或非门的第一输入端和与非门的第一输入端连接B2T的输出端；或非门的第二输入端和与非门的第二输入端连接延迟单元的输出端；或非门的输出端连接反相器的输入端，反相器的输出端输出第一控制信号；与非门的输出端连接缓冲器的输入端，缓冲器器的输出端输出第二控制信号。

优选地，当延迟电路包含N个子电路时，延迟电路能为具备N+1个LDU的DCDL提供控制信号；当延迟电路包含N个子电路时，延迟电路能一次性增加或减少所述DCDL输出信号与输入信号间M个LDU级延迟；其中，M＜N。

另一方面，应用于上述系统的方法，包括下列步骤：

对B2T产生的多组温度计码进行延迟处理，使处理后的每组温度计码慢于对应的未处理的温度计码时间间隔td3；

将每个处理后的温度计码与其对应的未处理的温度计码进行或非运算后取反得到第一控制信号；

将每个处理后的温度计码与其对应的未处理的温度计码进行与非运算后得到第二控制信号；

通过第一控制信号和第二控制信号控制DCDL的LDU激活数目。