[发明专利]一次设备仪表信号核对方法、装置及终端设备

权利要求书

1.一种一次设备仪表信号核对方法，其特征在于，包括：

按照预设采样间隔采集各个采样时刻待检仪表的表盘图像；

对所述各个采样时刻待检仪表的表盘图像进行指针识别，得到各个采样时刻待检仪表显示的参数值；

获取所述待检仪表显示的参数值达到预设参数值的最早时刻，记为第一时刻；

获取后台监控系统接收到所述预设参数值对应的返回信号的最早时刻，记为第二时刻；

根据所述第一时刻和所述第二时刻的差值确定所述待检仪表的信号核对结果。

2.如权利要求1所述的一次设备仪表信号核对方法，其特征在于，在按照预设采样间隔采集各个采样时刻待检仪表的表盘图像之前，还包括：

设定预设采样间隔。

3.如权利要求1所述的一次设备仪表信号核对方法，其特征在于，在对所述各个采样时刻待检仪表的表盘图像进行指针识别，得到各个采样时刻待检仪表显示的参数值之前，还包括：

获取所述待检仪表的量程信息。

4.如权利要求3所述的一次设备仪表信号核对方法，其特征在于，所述对所述各个采样时刻待检仪表的表盘图像进行指针识别，得到各个采样时刻待检仪表显示的参数值，包括：

基于所述表盘图像建立直角坐标系；

根据所述待检仪表的量程信息和所述表盘图像中表盘指针在所述直角坐标系中的位置信息确定待检仪表显示的参数值。

5.如权利要求4所述的一次设备仪表信号核对方法，其特征在于，若所述表盘图像中表盘指针在所述直角坐标系中的位置信息为所述表盘指针的斜率，则待检仪表显示的参数值x为：

其中，θ_min～θ_max为所述表盘指针的角度范围，x_min～x_max为所述表盘指针的参数值范围，k为所述表盘指针的斜率。

6.如权利要求1至5任一项所述的一次设备仪表信号核对方法，其特征在于，所述根据所述第一时刻和所述第二时刻确定所述待检仪表的信号核对结果，包括：

若所述第一时刻与所述第二时刻的差值在误差允许范围内，则确定所述待检仪表信号正常；

若所述第一时刻与所述第二时刻的差值未在误差允许范围内，则确定所述待检仪表信号故障。

7.一种一次设备仪表信号核对装置，其特征在于，包括：

图像采集模块，用于按照预设采样间隔采集各个采样时刻待检仪表的表盘图像；

指针识别模块，用于对所述各个采样时刻待检仪表的表盘图像进行指针识别，得到各个采样时刻待检仪表显示的参数值；

第一时刻获取模块，用于获取所述待检仪表显示的参数值达到预设参数值的最早时刻，记为第一时刻；

第二时刻获取模块，用于获取后台监控系统接收到所述预设参数值对应的返回信号的最早时刻，记为第二时刻；

信号核对模块，用于根据所述第一时刻和所述第二时刻的差值确定所述待检仪表的信号核对结果。

8.如权利要求7所述的一次设备仪表信号核对装置，其特征在于，还包括：

采样间隔设定模块，用于设定预设采样间隔。

9.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述方法的步骤。