[发明专利]图像照明分布的修正方法、修正装置及终端

说明书

本发明适用于显微热成像技术领域，提供了一种图像照明分布的修正方法、修正装置、终端及计算机可读存储介质。其中，所述修正方法包括：获取被测目标的待修正图像；获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正。本发明能够对图像可能存在的照明分布不均匀的问题进行修正，可以用于对显微热成像获得的显微热图像进行修正处理，有利于降低显微热图像由于照明分布不均匀引起的测量误差，提高通过显微热成像进行温度测量的准确性。

技术领域

本发明属于显微热成像技术领域，尤其涉及一种图像照明分布的修正方法、修正装置、终端及计算机可读存储介质。

背景技术

光反射热成像是一种非接触式测温技术，其基础是光热反射现象，其基本特征是物体的反射率会随物体的温度变化而变化。由于反射率随温度的变化可以认为是线性的，可以用光热反射系数(Thermo reflectance coefficience)来表征反射率随温度的变化。

为了实现高空间分辨力的显微热成像，通常采用基于高性能的光学显微镜来组建显微光反射热成像装置。利用光学显微镜的照明系统提供探测光，使用高性能相机记录显微成像，并根据显微成像获得的显微热图像计算光热反射系数，进而实现温度的非接触式测量。

为了保证测量精度，通常需要对测温目标进行多次测量得到多帧显微热图像，并根据得到的多帧显微热图像确定最终的测量结果。

然而，本申请的发明人发现，在多次测量的过程中，由于显微光反射热成像装置的振动、位置漂移或热对流等影响因素的存在，各次测量所得图像之间往往存在偏移；另外，受测温目标的封装方式或者夹具、热台等测量部件的热膨胀影响，温度变化前后的图像也会存在偏移。

通过显微热成像进行温度测量的前提是同一位置上的探测光强度不变，然而，由于探测光在测量区域内的强度不是理想均匀的，受上述偏移的影响，被测同一位置上的探测光强度可能会由于偏移而发生变化，显然这会引入误差，影响测量准确度。

在光学显微镜常用的照明方案中，临界照明均匀性难以达到要求，科勒照明理论上可以提供理想的均匀照明，但是每次使用前都需要进行复杂的调整，对操作技能要求高，并且其均匀性效果受调整水平影响大。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种图像照明分布的修正方法、修正装置、终端及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中通过显微热成像进行温度测量时由于探测光强度不均匀影响测量准确性的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种图像照明分布的修正方法，该修正方法包括：

获取被测目标的待修正图像；

获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；

基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正。

本发明实施例的第二方面提供了一种图像照明分布的修正装置，该修正装置包括：

第一获取单元，用于获取被测目标的待修正图像；

第二获取单元，用于获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；

照明分布修正单元，用于基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正。

本发明实施例的第三方面提供了一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如任一项所述图像照明分布的修正方法的步骤。