[发明专利]一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统

权利要求书

1.一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统，包括：暗室（1）、待测目标（2）、固定装置（8）、矢量网络分析仪（6）、太赫兹矢网扩展模块（5）和计算机（7），所述的暗室（1）为太赫兹暗室且具备内部空间，所述待测目标（2）、固定装置（8）均位于暗室（1）的内部，所述的待测目标（2）位于固定装置（8）的顶平面上方，所述的矢量网络分析仪（6）发出毫米波信号，所述的计算机（7）、矢量网络分析仪（6）、太赫兹矢网扩展模块（5）均位于暗室（1）的外部，所述的计算机（7）之间电性连接，所述的计算机（7）还与矢量网络分析仪（6）、太赫兹矢网扩展模块（5）之间依次顺序连接；

其特征在于，所述的基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统还包含有电扫天线（3）和馈电模块（4），所述的电扫天线（3）、馈电模块（4）均位于暗室（1）的内部，所述的电扫天线（3）与太赫兹矢网扩展模块（5）之间通过馈电模块（4）控制连接，

其中，所述的矢量网络分析仪（6）发出毫米波信号后，经太赫兹矢网扩展模块（5）放大倍频到太赫兹频段，得到太赫兹信号，所述的太赫兹信号通过电扫天线（3）后转换为自由空间平面波；自由空间平面波照射到待测目标（2），经待测目标（2）反射后再原路返回到电扫天线（3），电扫天线（3）接收后还原为电流信号，电流信号经太赫兹矢网扩展模块（5）下变频为毫米波信号，毫米波信号返回矢量网络分析仪（6），矢量网络分析仪（6）计算参数并存储于计算机（7）。

2.根据权利要求1所述的基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统，其特征在于，电扫天线（3）为有源电扫天线；所述的有源电扫天线设置为相控阵天线或超材料电扫天线。

3.根据权利要求2所述的基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统，其特征在于，所述的相控阵天线包含有若干天线元件（31），所述的天线元件（31）排列成天线阵面。

4.根据权利要求3所述的基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统，其特征在于，所述的天线元件（31）包括射频信号模块（311）、移相器（312）和放大器（313），所述的射频信号模块（311）、移相器（312）和放大器（313）之间依次控制连接。

5.根据权利要求2所述的基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统，其特征在于，超材料电扫天线包含有若干超材料单元（32），所述的超材料单元（32）形成超材料扫描阵列。

6.根据权利要求5所述的基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统，其特征在于，所述的每个超材料单元（32）中包含有变容二极管或MEMS开关。

7.根据权利要求1所述的基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统，其特征在于，太赫兹暗室中设置有吸波材料。