[发明专利]存储设备健康度检测方法、装置及存储介质

说明书

本申请实施例提供一种存储设备健康度检测方法、装置及存储介质。该方法包括：获取待检测存储设备的特征参数，待检测存储设备包括总线接口、存储单元和控制单元，特征参数包括总线接口、存储单元和控制单元中至少两部分的特征参数，特征参数用于表征导致对应部分失效的原因；根据特征参数及健康度衡量模型，确定待检测存储设备的健康度，该健康度衡量模型为根据特征参数预先建立的模型。通过本申请实施例可以提高存储设备的健康度的评估准确度。

技术领域

本申请实施例涉及闪存技术，尤其涉及一种存储设备健康度检测方法、装置及存储介质。

背景技术

随着闪存技术的不断发展，嵌入式多媒体卡(embeded multi media card，eMMC)和通用闪存存储器(universal flash storage，UFS)等存储设备应用而生，并因其速度快、延迟小、功耗低和良好的多任务处理能力等优点在嵌入式智能终端中得到了广泛的应用。在实际应用中，为了保证如上所述存储设备的良品率，需要寻找一种检测其健康度的方案，以保证存储设备的高度可用性。

现有方案虽可基于存储设备中存储单元的写入量来评估其健康度，但准确度较低。

发明内容

本申请实施例提供一种存储设备健康度检测方法、装置及存储介质，以提高存储设备的健康度的评估准确度。

为了实现上述目的，本申请实施例提供如下技术方案：

第一方面，本申请实施例提供一种存储设备健康度检测方法，包括：获取待检测存储设备的特征参数，其中待检测存储设备包括总线接口、存储单元和控制单元，该特征参数包括总线接口、存储单元和控制单元中至少两部分的特征参数，特征参数用于表征导致对应部分失效的原因；根据特征参数及健康度衡量模型，确定待检测存储设备的健康度，该健康度衡量模型为根据上述特征参数预先建立的模型。

由于待检测存储设备的健康度的确定综合了包括总线接口、存储单元和控制单元中至少两部分的特征参数，因此通过本申请实施例可以提高存储设备的健康度的评估准确度。

一种可能的实施方式中，如上所述根据特征参数及健康度衡量模型，确定待检测存储设备的健康度，可以包括：根据特征参数，确定待检测存储设备中对应部分的磨损指标，该磨损指标用于表征磨损程度；并根据磨损指标和健康度衡量模型，确定待检测存储设备的健康度。

一种可能的实施方式中，如上所述根据特征参数，确定待检测存储设备中对应部分的磨损指标，可包括以下至少两项：

根据总线接口的特征参数，确定总线接口的磨损指标R₁，

根据控制单元的特征参数，确定控制单元的磨损指标R₂，

根据存储单元的特征参数，确定存储单元的磨损指标R₃，

其中，a₁、b₁和c₁的值是由训练模型R＝ae^bt+c基于总线接口的特征参数训练得到；a₂、b₂和c₂的值是由训练模型R＝ae^bt+c基于控制单元的特征参数训练得到，t表示时间；RBER表示原始比特错误数，Num_ab表示总比特读出数。

一种可能的实施方式中，如上所述根据磨损指标和健康度衡量模型，确定待检测存储设备的健康度，可以包括：根据总线接口的磨损指标、控制单元的磨损指标和存储单元的磨损指标中至少两项，以及健康度衡量模型，确定待检测存储设备的健康度。