[发明专利]一种适用于嵌入式系统的单元测试框架

说明书

本发明提供了一种适用于嵌入式系统的单元测试框架，用于解决当前嵌入式领域应用程序标准化测试的问题。所述单元测试框架包括标准测试接口模块、测试用例导出模块、测试命令解析模块、测试单元执行模块、日志模块和测试结果处理模块。其中测试用例导出模块将测试用例程序抽象为测试初始化模块、测试清理模块和测试用例程序入口模块，并利用链接器特性将测试用例程序导出到程序镜像中指定的代码段。所述单元测试框架使用标准C语言编写，实现了通用测试接口，降低了测试用例程序编写难度，提高了代码复用度，缩短了开发周期，适用于所有的嵌入式操作系统，并可以移植到没有使用嵌入式系统的裸机系统中使用。

技术领域

本发明涉及嵌入式软件测试领域，特别涉及应用于嵌入式系统的单元测试框架的测试方法和测试系统。

背景技术

随着计算机技术的飞速发展和物联网技术的快速崛起，嵌入式软硬件的迭代速度也越来越快，对嵌入式软件质量和系统稳定性提出了更高的要求。由于嵌入式系统通常使用的是实时操作系统或者裸机系统，且内存受限，通用计算机软件上的C语言单元测试框架并不能应用于嵌入式软件测试。由于嵌入式软件测试没有通用的测试框架，无法撰写可复用的通用测试用例程序，测试覆盖率低。

发明内容

鉴于现有技术中存在的问题，本发明提供了一种适用于嵌入式系统的单元测试框架，所述单元测试框架主要包括标准测试接口模块、测试用例导出模块、测试命令解析模块、测试单元执行模块、日志模块和测试结果处理模块。所述标准测试接口模块用于编写统一的测试用例程序；所述测试用例导出模块使用链接器特性将测试用例程序抽象出的数据结构存储到可执行程序镜像的指定代码段区域，用于降低内存使用；所述测试命令解析模块为用户提供测试命令，以允许用户手动指定需要运行的测试用例；所述测试单元执行模块将测试用例程序定义为两层结构，上层为测试用例，下层为测试单元，简化测试用例功能项的拆分测试难度，使得每一个功能项独立对应于一个测试单元，一个测试用例程序包含一个测试用例，一个测试用例可以对应多个测试单元，测试单元使用测试单元执行模块运行；所述日志模块采用统一的日志输出风格，并在测试失败的位置输出详细的信息(如文件名、行号、函数名)；所述测试结果处理模块使用计数的方式实时记录每一个测试成功或失败的测试项，并使用日志模块输出测试结果。

本发明的有益效果在于以下实现：

(1)抽象实现了标准测试接口模块，便于实现风格统一的通用测试用例程序，解决了现有测试没有统一的结构和测试结果判断方式的问题；

(2)采用了链接器特性，将测试用例程序导出并汇总到程序镜像中指定的代码段的方式，增加测试用例程序不会导致额外的内存消耗(小于1K字节)，有效避免了嵌入式设备内存小的问题，内存消耗显著低于现有的测试框架；

(3)使用日志模块标准化输出测试结果，便于集成测试、自动化测试以及数据分析，相比传统的上位机解析更加简单方便。

附图说明

图1为本发明实施例的整体功能结构图；

图2为本发明实施例的测试用例在可执行程序镜像中的示意存储位置图；

图3为本发明实施例的单元测试框架的执行流程图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合说明书附图对本发明实施例进行说明，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。