[发明专利]加热系统及半导体加工设备在审
申请号: | 201910600492.0 | 申请日: | 2019-07-04 |
公开(公告)号: | CN110299314A | 公开(公告)日: | 2019-10-01 |
发明(设计)人: | 刘玉杰;董博宇;文莉辉;张家昊;武学伟;武术波;杨依龙;李新颖;郭冰亮;李丽;宋玲彦;张璐;陈玉静;马迎功;赵晨光 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01J37/34 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;张天舒 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 托盘 加热系统 反射部 反射屏 半导体加工设备 加热器 反射加热器 加热器辐射 加热器径向 凹槽形状 热量反射 辐射 反射 加热 | ||
1.一种加热系统,用于对托盘进行加热,所述加热系统包括加热器和反射屏,所述反射屏用于将所述加热器辐射的热量反射至所述托盘,其特征在于,所述反射屏包括凹槽形状的反射部,所述加热器设置在所述反射部中。
2.根据权利要求1所述的加热系统,其特征在于,所述反射部横截面上部轮廓线的形状为抛物线。
3.根据权利要求2所述的加热系统,其特征在于,所述加热器位于所述抛物线的焦点位置;
在所述反射部的两端分别具有第一边缘和第二边缘,所述加热器的中心和所述第一边缘的连线与所述加热器的中心和所述第二边缘的连线在朝向所述反射部的方向上形成夹角A,其中,所述夹角A≧180°。
4.根据权利要求3所述的加热系统,其特征在于,所述抛物线的曲线公式为x2=2Py。
5.根据权利要求4所述的加热系统,其特征在于,所述P的取值范围为:12.5mm>P>10mm;所述加热器的直径小于P。
6.根据权利要求5所述的加热系统,其特征在于,所述加热器的直径为10mm,并且,P=11mm,A=195°。
7.根据权利要求1-6中任一所述的加热系统,其特征在于,所述加热器的数量为多个,在所述反射屏上设置有与所述加热器数量相等的所述反射部,且所述加热器和所述反射部一一对应地设置。
8.根据权利要求1-6中任一所述的加热系统,其特征在于,所述反射部的表面铺设有热量反射材料。
9.根据权利要求1-6中任一所述的加热系统,其特征在于,所述加热器为加热管,所述反射屏的所述反射部沿所述加热管的长度方向延伸。
10.一种半导体加工设备,包括加热系统,其特征在于,所述加热系统采用权利要求1-9中任一所述的加热系统。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造