[发明专利]一种由多光谱地表反射率推演高光谱地表反射率的方法

权利要求书

1.一种由多光谱地表反射率推演高光谱地表反射率的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、获取辐射校正场高光谱地表反射率参考曲线：通过波段式对地辐射计与光谱仪同步观测同一片区域，将光谱仪获取的辐射校正场平均高光谱地表反射率ρ_ref作为参考曲线；

步骤2、校正波段式对地辐射计与光谱仪之间的系统偏差，获得校正系数；

步骤3、计算卫星过顶时刻的高光谱地表反射率：

步骤3.1、利用相邻两个波段的地表反射率与高光谱地表反射率参考曲线带内地表反射率之间的比例关系，确立相邻波段之间任意波长处的地表反射率；

具体过程为：

在[μ_i，μ_i+1]区间内任意波长μ处的地表反射率ρ_μ表示为：

其中，μ_i表示波段i的中心波长，ρ_i为波段式对地辐射计获取的波段i的地表反射率，ρ_{μ_ref}为光谱仪获取的高光谱地表反射率参考曲线在波长μ处的地表反射率，ρ_{[i]_ref}为高光谱地表反射率参考曲线在波段i内的等效地表反射率；α_i为波段i的校正系数；

步骤3.2、在多光谱地表反射率不能覆盖的区域，采用就近原则，利用距离所求波长最近的多光谱地表反射率比例对高光谱地表反射率参考曲线进行缩放，确定地表反射率具体过程为：

在[0.350μm,μ₁]区间内任意波长μ处的地表反射率ρ_μ表示为：

在[μ_max，2.50μm]区间内任意波长μ处的地表反射率ρ_μ表示为：

μ_max为波段式对地辐射计最大波段的中心波长，ρ_max为波段式对地辐射计测量的最大波段地表反射率，为辐射校正场高光谱地表反射率参考曲线在波段式对地辐射计最大波段的等效地表反射率。

2.根据权利要求1所述的由多光谱地表反射率推演高光谱地表反射率的方法，其特征在于，步骤2校正系数由下式获得：

ρ_{[i]_ref}＝α_i×ρ_{i_t0}, (1)

其中,ρ_{i_t0}为t₀时刻波段式对地辐射计获取的波段i的地表反射率，ρ_{[i]_ref}为光谱仪测量的高光谱地表反射率参考曲线在波段i内的等效地表反射率。