[发明专利]基于氧化钒单晶片的悬空式光电探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910608854.0 申请日: 2019-07-08
公开(公告)号: CN110455419B 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 谢伟广;曾文;张宇靖;赖浩杰;周洋;刘彭义 申请(专利权)人: 暨南大学
主分类号: G01J5/12 分类号: G01J5/12;G01J3/28
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 雷芬芬
地址: 510632 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 基于 氧化 晶片 悬空 光电 探测器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于氧化钒单晶片的悬空式光电探测器,其特征在于,包括:底座、V6O13单晶片、源电极以及漏电极;

所述底座为凹形,所述V6O13单晶片的两端固定在所述底座两边的凸起,所述V6O13单晶片和所述底座之间形成空腔,所述V6O13单晶片两端的上表面分别镀金属薄膜,分别作为源电极、漏电极。

2.根据权利要求1所述的基于氧化钒单晶片的悬空式光电探测器,其特征在于,所述底座包括支撑层和第一基底;所述第一基底为水平板状,所述支撑层固定在所述第一基底的上表面的两端,形成凹槽,所述底座两边的凸起为所述支撑层。

3.根据权利要求2所述的基于氧化钒单晶片的悬空式光电探测器,其特征在于,所述支撑层为Cu膜,其厚度为500nm。

4.根据权利要求1所述的基于氧化钒单晶片的悬空式光电探测器,其特征在于,所述底座为一体化的内凹形的第二基底。

5.根据权利要求1所述的基于氧化钒单晶片的悬空式光电探测器,其特征在于,所述底座的凹槽宽度为100-200μm。

6.根据权利要求1所述的基于氧化钒单晶片的悬空式光电探测器,其特征在于,所述V6O13单晶片宽为10-50μm,其长大于或等于500μm。

7.根据权利要求1所述的基于氧化钒单晶片的悬空式光电探测器,其特征在于,所述V6O13单晶片两端的上表面镀的金属薄膜相同或者不同,所述V6O13单晶片两端的上表面镀的金属薄膜为金或者银。

8.一种根据权利要求1-2、5-7任意一项所述的基于氧化钒单晶片的悬空式光电探测器的制备方法,其特征在于,包括:

S1,制作底座;

S2,在V6O13单晶片的上表面旋涂电子束光刻胶;并在V6O13单晶片上确定源电极和漏电极的位置,通过显影、定影去除源电极和漏电极位置的电子束光刻胶,在V6O13单晶片上采用真空镀膜技术蒸镀金属膜,最后用丙酮将金属膜以外的电子束光刻胶去除,得到源电极、漏电极;

S3,将制备好源电极、漏电极的V6O13单晶片的两端固定在所述底座两边的凸起,得到基于V6O13单晶片的悬空式光电探测器。

9.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,步骤S1包括:

依次使用丙酮、去离子水以及酒精对第一基底进行超声清洗;

在清洗干净的第一基底上旋涂电子束光刻胶;在第一基底上的两端确定支撑层的位置,通过显影、定影去除支撑层位置处的电子束光刻胶,之后采用真空镀膜技术蒸镀金属膜作为支撑层,最后用丙酮将支撑层以外的电子束光刻胶去除,得到凹形的底座。

10.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,步骤S1还包括:

依次使用丙酮、去离子水和酒精对第二基底进行超声清洗;

在清洗干净的第二基底上旋涂电子束光刻胶;确定第二基底上凹槽位置,然后通过显影、定影去除凹槽位置处的电子束光刻胶,之后用刻蚀剂刻蚀第二基底,形成凹槽;最后用丙酮除去电子光刻胶和多余刻蚀剂,得到凹形的第二基底。

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