[发明专利]利用气质联用法定性三聚氯氰工艺中未知杂质的分析方法有效
申请号: | 201910613661.4 | 申请日: | 2019-07-09 |
公开(公告)号: | CN110221014B | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 马亚红;贾荣荣;李会卿;左兰兰 | 申请(专利权)人: | 河北诚信集团有限公司 |
主分类号: | G01N30/88 | 分类号: | G01N30/88;G01N30/08;G01N30/12 |
代理公司: | 石家庄元汇专利代理事务所(特殊普通合伙) 13115 | 代理人: | 李彤晓 |
地址: | 051130 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 气质 联用 法定 三聚 工艺 未知 杂质 分析 方法 | ||
1.利用气质联用法定性三聚氯氰工艺中未知杂质的分析方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将副产物杂质通过富集后配制成待测样品溶液;采用减压蒸馏的方式将三聚氯氰蒸馏除去,剩余釜料为富集后的杂质成分;
(2)使用气相色谱-质谱联用仪测试所述待测样品溶液:
所述的气相色谱-质谱联用仪为:Thermo Fisher GC/MS-TRACE 1300气相色谱-质谱联用仪;
气相色谱柱:弱极性柱Rxi-5ms,柱长60m,内径0.25mm,膜厚0.25μm;
气相参数:进样口温度:250℃;检测器温度:280℃;柱温箱升温程序:120℃保持5min,15℃/min升至220℃保持10min;柱流量:1.6mL/min;分流比:150/1;载气:氦气;进样体积:0.2μL;
质谱参数:离子源:70eV;GC与MS的接口温度:250℃;溶剂切割时间:8.3min;质核比扫描范围:40~350;
(3)气质联用法定性分析所述待测样品溶液的杂质成分,解析得出杂质的化学结构;
(4)根据步骤(3)确定的杂质结构,将该杂质标准品按照步骤(1)的方式配制成标准品待测液,根据检测结果验证该标准品是否为步骤(3)中解析得出的杂质:
仪器:Thermo Fisher GC/MS-TRACE 1300气相色谱-质谱联用仪;
气相色谱柱:弱极性柱Rxi-5ms,柱长60m,内径0.25mm,膜厚0.25μm;
气相参数:进样口温度:250℃;检测器温度:280℃;柱温箱升温程序:120℃保持5min,15℃/min升至220℃保持10min;柱流量:1.6mL/min;分流比:150/1;载气:氦气;进样体积:0.2μL;
质谱参数:离子源:70eV;GC与MS的接口温度:250℃;溶剂切割时间:8.3min;质核比扫描范围:40~350。
2.根据权利要求1所述的利用气质联用法定性三聚氯氰工艺中未知杂质的分析方法,其特征在于,步骤1)中待测样品溶液配制所用的溶剂是丙酮、或乙腈、或甲苯。
3.根据权利要求1所述的利用气质联用法定性三聚氯氰工艺中未知杂质的分析方法,其特征在于,步骤(3)中通过质谱碎片离子信号和谱库检索结果解析未知杂质的化学结构。
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