[发明专利]提供用于传感器集成电路的补偿参数

说明书

本公开的实施例涉及提供用于传感器集成电路的补偿参数，即涉及相关的方法和一个或多个设备。一种设备可以确定对应于与传感器系统相关联的传感器集成电路(IC)的传感器标识符。该设备可以提供对应于传感器IC的传感器标识符。该设备可以基于提供传感器标识符接收与传感器IC相关联的补偿参数信息。该设备可以使与补偿参数信息相关联的补偿参数集合存储在与传感器系统相关联的控制器上。补偿参数集合可以包括与校正由传感器IC执行的测量或由传感器IC提供的安全结果相关联的一个或多个参数。

技术领域

本公开涉及提供用于传感器集成电路的补偿参数，具体而言，涉及相关的方法和一个或多个设备。

背景技术

传感器集成电路(IC)(有时称为传感器芯片)是一种可以用于测量物理特性并提供与测量值相对应的输出的设备。例如，传感器IC可以被设计用于测量温度、机械应力量、压力、电源电压、电磁场分量的强度等，并提供表示测量值的输出(例如，电信号)。

发明内容

根据一些可能的实施，一种方法可以包括：通过设备确定与传感器系统相关联的传感器集成电路(IC)对应的传感器标识符；通过该设备提供与传感器IC对应的传感器标识符；通过该设备并基于提供传感器标识符来接收与传感器IC相关联的补偿参数信息；以及通过该设备使与补偿参数信息相关联的补偿参数集合存储在与传感器系统相关联的控制器上，其中，补偿参数集合包括与校正由传感器IC执行的测量或由传感器IC提供的安全结果相关联的一个或多个参数。

根据一些可能的实施，一种方法可以包括：通过设备接收对应于与传感器系统相关联的传感器集成电路(IC)的传感器标识符；通过该设备并基于传感器标识符确定与传感器IC相关联的补偿参数信息；以及通过该设备提供与使补偿参数集合存储在与传感器系统相关联的控制器上相关联的补偿参数信息，补偿参数集合与补偿参数信息相关联，其中，补偿参数集合包括与校正由传感器IC执行的测量或由传感器IC提供的安全结果相关联的一个或多个参数。

根据一些可能的实施，一个或多个设备可以包括一个或多个处理器，用于确定识别与系统关联的集成电路(IC)的标识符；基于标识符获取与IC相关联的补偿参数信息；基于补偿参数信息确定与由IC执行的校正测量或由IC提供的安全结果相关联的补偿参数集合；以及使补偿参数集合存储在与系统相关联的控制器上。

附图说明

图1A-1C是如本文所述为传感器集成电路提供补偿参数的示例实施方式的示图。

图2是可以实施本文所述的技术和/或方法的示例环境的示图。

图3是图2的一个或多个设备的示例部件的示图。

图4是示例处理的流程图，该处理用于基于与传感器系统的传感器IC相关联的传感器标识符接收与传感器IC相关联的补偿参数信息以及用于使与传感器IC相关联的补偿参数集合存储在传感器系统的控制器上。

图5是基于与传感器IC相对应的传感器标识符提供与传感器IC相关联的补偿参数信息的示例处理的流程图。

图6A-6C是本文所述的传感器IC、控制器以及包括一个或多个传感器IC和控制器的传感器系统的示例部件的示图。

图7是图6C的传感器系统的示例实施方式的示图。

具体实施方式

以下示例实施的详细描述参照附图。不同附图中相同的参考标号可以识别相同或相似的元素。

传感器IC通常不仅对传感器IC用于量化的物理特性敏感，而且对其他物理特性也敏感。作为示例，磁性传感器IC应该对磁场敏感(例如，使得传感器IC可以测量磁场强度)，但是也可以对温度敏感(例如，使得传感器IC的输出不仅取决于磁场强度，而且还取决于环境温度)。