[发明专利]检测电路和烹饪器具

说明书

本发明提供了一种检测电路和烹饪器具，其中，检测电路包括：采样模块，采样模块被配置为检测工况参数，并将工况参数转换为等效阻抗，采样模块包括至少多个采样阻性元件；切换模块，切换模块被配置为切换采样模块的导通状态，切换模块连接至采样模块的第一端，其中，采样模块的第二端被配置为能够向处理器输出等效阻抗，导通状态的个数大于或等于采样阻性元件的个数。通过本发明的技术方案，在保证采集的工况参数的个数不减少的前提下，节约了处理器的端口占用，同时，简化了检测电路的外部引线，进而有利于降低外部噪声对采样的工况参数的干扰检测，提升了采样的工况参数的准确性和可靠性。

技术领域

本发明涉及检测技术领域，具体而言，涉及一种检测电路和一种烹饪器具。

背景技术

大多数电器设备在运行过程中，需要采集多个或多种工况参数，尤其是烹饪器具，诸如，烤箱、蒸箱、抽油烟机、燃气灶、电饭煲、饼铛、压力锅和电磁炉等，用户对烹饪器具的控温要求越来越高，另外，也需要进行多个位置的温度检测，譬如，在烤箱中设置多点温度探针，以对食物烹饪温度的进行测控，多点温度探针检测的温度值进行平均化，进而提高测量温度的可靠性和准确性。

相关技术中，对每个温度探针分别设置相应的引线，以分别输出与温度信号相对应的电信号至处理器，则N个温度探针需要占用处理器N个端口，这会严重影响处理器的资源利用率和端口使用率，其中，N为大于或等于2的正整数。

譬如，如图1所示，现有技术的检测电路100包括：供电源VCC和地线，三点温度探针的三个NTC热敏电阻R₁、R₂和R₃，输出采样电信号时需要引出来至少4条线到电路板(假设接地端已经在探针端封装好)，R₁、R₂和R₃分别通过电阻R₄、R₅、R₆上拉，接到处理器MCU的三条ADC通道包括：ADC0、ADC1和ADC2。该电路存在以下缺陷：传感器需要引出来管脚太多，显而易见的是，多个温度探针的输出信号的一致性较低，且检测精度较差。

另外，整个说明书对背景技术的任何讨论，并不代表该背景技术一定是所属领域技术人员所知晓的现有技术，整个说明书中的对现有技术的任何讨论并不代表认为该现有技术一定是广泛公知的或一定构成本领域的公知常识。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

为此，本发明的一个目的在于提供一种检测电路。

本发明的另一个目的在于提供一种烹饪器具。

为了实现上述目的，根据本发明的第一方面的技术方案，提供了一种检测电路，包括：采样模块，所述采样模块被配置为检测工况参数，并将工况参数转换为等效阻抗，所述采样模块包括至少多个采样阻性元件；切换模块，所述切换模块被配置为切换所述采样模块的导通状态，所述切换模块连接至所述采样模块的第一端，其中，所述采样模块的第二端被配置为能够向处理器输出所述等效阻抗，所述导通状态的个数大于或等于所述采样阻性元件的个数。

在该技术方案中，通过设置切换模块切换采样模块的导通状态，简化了采样模块输出信号的引线，另外，处理器的数据端口主要包括I/O端口和采样端口两类，其中，本申请的技术方案只需要占用处理器的一个端口，采样模块即可向处理器输出不同导通状态下对应的等效阻抗，进而能确定每个采样阻性元件的阻值，减少了采样端口的占用和外部引线的设置，同时减少了外部引线对采样信号的干扰，有利于进一步地提高采样数据的可靠性和准确性。