[发明专利]一种利用土壤高光谱反射率计算土壤全盐含量的方法有效
申请号: | 201910616062.8 | 申请日: | 2019-07-09 |
公开(公告)号: | CN110243773B | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 陈皓锐;王少丽;陶园;管孝艳;米博宇;刘静;常晓敏 | 申请(专利权)人: | 中国水利水电科学研究院 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01N27/06 |
代理公司: | 51229 成都正华专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 李蕊;李林合 |
地址: | 100038 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高光谱 土壤 土壤全盐 反射率计算 盐量 电导率 反射率信息 高光谱仪 快速监测 区域土壤 吸收指数 样品土壤 地物 推算 诊断 回归 监测 | ||
1.一种利用土壤高光谱反射率计算土壤全盐含量的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:在待测目标含盐土壤上选取若干测试点,在每个测试点上选取若干数据采集点,并采集每个数据采集点上的高光谱反射率;
S2:将每一个测试点上获得的若干高光谱反射率进行算术平均,绘制成一条高光谱反射曲线,即获得若干条高光谱反射曲线;
S3:采集每个测试点设定范围内的土样,并将其制备成标准土壤浸提液,测定标准土壤浸提液的电导率和全盐含量,建立电导率和全盐含量的关系式:
Salt=αEC1:5+β,
其中,EC1:5为标准土壤浸提液的电导率(ds/m),Salt为土壤全盐量(%),α和β均为关系系数;
S4:对每条高光谱反射曲线进行去包络线处理,获得若干条高光谱吸收特征曲线,读取每条高光谱吸收特征曲线中的两个吸收波谷的波长分布范围;
S5:采用一元多次回归方程,拟合第i条高光谱吸收特征曲线的两个吸收波谷的曲线表达式fi,1(λ)和fi,2(λ):
其中,fi,1(λ)和fi,2(λ)分别为第i个土壤样品的高光谱吸收特征曲线的第一波谷曲线和第二波谷曲线的回归方程,和bi,1均为第i个土壤样品的第一个波谷曲线的回归系数,和bi,2为第i个土壤样品的第二个波谷曲线的回归系数;λi,1和λi,2为第一个波谷曲线和第二个波谷曲线的波长,m和k分别为第一波谷曲线和第二波谷曲线的回归方程的阶数;
S6:通过两个吸收波谷的曲线表达式,计算第i条高光谱反射曲线对应的第i个测试点土壤的高光谱吸收指数,所述高光谱吸收指数包括吸收谷深h:
其中,hi,1和hi,2分别为第一波谷曲线和第二个波谷曲线的谷深,ρi,1,max和ρi,1,min分别为第一波谷的反射率最大值和最小值,ρi,2,max和ρi,2,min分别为第二波谷的反射率最大值和最小值,λi,1,min和λi,1,max为第一波谷的波长最小值和最大值,λi,2,min和λi,2,max为第二波谷的波长最小值和最大值;
吸收度S:
其中,Si,1和Si,2分别为第一波谷和第二波谷的吸收度;
吸收幅宽W:
Wi,1=λi,1,w2-λi,1,w2,W1,2=λi,2,w2-λi,2,w1,其中,Wi,1和Wi,2分别为第一波谷和第二波谷的幅宽;λi,1,w1和λi,1,w2为:以为纵坐标,绘制与x轴平行的直线,该直线与第一个吸收谷曲线的两个交点的横坐标;λi,2,w1,λi,2,w2为:以为纵坐标,绘制与x轴平行的直线,该直线与第二个吸收谷曲线的两个交点的横坐标;
S7:重复步骤S5-S6,获得其余测试点土壤的高光谱吸收指数;
S8:利用所有测试点土壤的高光谱吸收指数建立土壤全盐量和高光谱吸收指数的回归关系式,计算待测目标含盐土壤的土壤全盐量;
具体包括:
S81:建立土壤电导率与所有测试点高光谱吸收指数的回归方程:
EC1:5=P1×hi,1+P2×hi,2+P3×Si,1+P4×Si,2+P5×Wi,1+P6×Wi,2+P0,
其中,P0~P6为回归系数;
S82:利用步骤S3中的电导率和全盐含量的关系式,建立土壤全盐量和高光谱吸收指数的回归关系式:
Salt=αEC1:5+β=α×P1×hi,1+α×P2×hi,2+α×P3×Si,1+α×P4×Si,2+α×P5×Wi,1+α×P6×Wi,2+α×P0+β。
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