[发明专利]磁致伸缩系数的测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种磁致伸缩系数的测量装置，其特征在于：包括气浮动平台，均布置在所述气浮动平台上表面的激光测振仪、励磁单元、反光片自粘单元、滑动单元及取样单元；

所述滑动单元包括一对导轨及可滑动地安装在所述导轨上的U型导轨；所述取样单元包括可滑动地安装在所述U型导轨上的机械抓手、设置在所述机械抓手一端的前吸盘及设置在所述机械抓手另一端的后吸盘，以及设置在所述导轨之间的试样待测框、试样测量框及试样回收框，所述励磁单元与所述试样测量框呈同一轴线布置；所述反光片自粘单元包括布置在试样待测框旁的电动转盘及安装在机械抓手上的电磁吸盘，且电磁吸盘与前吸盘同侧布置；

所述反光片的材质为酚醛树脂，反光片的质量小于0.1g；所述反光片下表面粘有用于与试样粘接的薄膜橡胶磁片，所述薄膜橡胶磁片厚度不超过0.2mm，所述薄膜橡胶磁片磁力不大于0.2N；

所述励磁单元包括励磁线圈线框和磁轭，所述励磁线圈线框包括骨架、一次线圈绕组、二次线圈绕组及H线圈绕组，二次线圈绕组位于一次线圈绕组内部均绕制在骨架上，且一次线圈绕组和二次线圈绕组均以骨架中心为中心对称且均匀布置；所述H线圈绕组排布在骨架内框下表面，H线圈绕组以骨架中心为中心对称且均匀分布；所述骨架下表面贴有平面刚性片，平面刚性片为1mm厚的氟树脂浸渍玻璃布胶膜，或者为0.8mm厚的玻璃环氧树脂片加0.13mm厚的树脂浸渍玻璃布胶膜；所述一次线圈绕组的长度略小于骨架的长度，所述二次线圈绕组的长度为一次线圈绕组的一半，所述H线圈绕组的长度大于二次线圈绕组的长度、小于一次线圈绕组的长度；所述一次线圈绕组和所述二次线圈绕组的匝数均为360±20匝，所述H线圈绕组的匝数为200±20匝。

2.根据权利要求1所述磁致伸缩系数的测量装置，其特征在于：所述激光测振仪位于所述气浮动平台上表面的一侧，所述滑动单元位于所述气浮动平台上表面的另一侧，所述励磁单元设置在所述气浮动平台上表面且位于所述激光测振仪与所述滑动单元之间；所述试样待测框、试样测量框及试样回收框平行并排布置，且所述试样测量框位于试样待测框与试样回收框之间。

3.根据权利要求1所述磁致伸缩系数的测量装置，其特征在于：所述机械抓手上安装有两个电磁吸盘，两个所述电磁吸盘沿试样测量框轴线对称分布。

4.根据权利要求1所述磁致伸缩系数的测量装置，其特征在于：所述取样单元还包括安装在试样测量框下表面的重量传感器。

5.一种如权利 要求 1所述磁致伸缩系数的测量装置的测量方法，其特征在于：所述测量方法包括如下步骤：

1)将待测的试样放在试样待测框后，启动U型导轨和机械抓手，前吸盘、后吸盘将试样从试样待测框放入试样测量框，然后U型导轨运动至电动转盘旁，电磁吸盘通电吸取电动转盘内的反光片，反光片通过反光片下表面的薄膜橡胶磁片粘贴在试样的预设位置后，前吸盘、后吸盘吸起试样放入到励磁线圈线框的入口，前吸盘松开，后吸盘推动试样进入励磁线圈线框内；

2)激光测振仪发出激光照射在反光片上，试样被磁化至规定磁极化强度，激光测振仪的光电接收器根据反射光的频率变化，记录电压信号的波动，转换成磁致伸缩应变量，即得出试样磁致伸缩应变量与磁极化强度相关的曲线；

3)测量完成后，后吸盘吸住试样拉出，放置在试样测量框后，U型导轨运动带动电磁吸盘取下反光片，放入电动转盘的反光片槽内，前吸盘、后吸盘再将试样吸起放入试样回收框内；

4)重复步骤1)～步骤3)直至试样待测框没有样品为止。