[发明专利]载物台、物性测定装置及测定方法

说明书

本发明涉及载物台、物性测定装置及测定方法。一种载物台，其是用于测定光学膜的物性值的载物台，其部分接触面积率在上述载物台的光学膜载置面的全部区域中为45％以下。

技术领域

本发明涉及载物台、物性测定装置及测定方法。

背景技术

作为基板测定用载物台，已知具有平面的基板载置面的载物台(JP2009-88477A1)。另外，作为玻璃基板的检查装置，已知具备水平地支撑玻璃基板的多个突出支撑部的检查装置(JP2008-151714号A1)。

发明内容

发明要解决的课题

具有粘合性的光学膜一般刚性低，因此，在载置于载物台时，会有在从载物台卸下光学膜时使光学膜发生损伤或物性值发生变化的情况。

本发明的目的在于，提供即使是具有粘合性的光学膜也能容易地从载物台卸下的载物台。

用于解决课题的手段

本发明提供以下的载物台、物性测定装置及测定方法。

[1]一种载物台，其是用于测定光学膜的物性值的载物台，其部分接触面积率在上述载物台的光学膜载置面的全部区域中为45％以下。

在此，部分接触面积率利用以下的方法(1)来测定。

方法(1)：

(a)在由具有发色剂层的A膜和具有显色剂层的C膜构成的压敏纸5中，按照A膜的发色剂层与C膜的显色剂层接触的方式进行重叠。

(b)将载物台以光学膜载置面朝上的方式设置在平坦的台上。

(c)将压敏纸载置于载物台的光学膜载置面上。

(d)将平坦的铁板(纵32mm、横32mm、厚度4mm、32g)和在该铁板上的重物(21kg)分别耗时5秒钟轻轻地放置在载置于载物台的光学膜载置面上的压敏纸上。

(e)重物载置经过2分钟后，分别将重物、平坦的铁板及压敏纸轻轻地移除。

(f)对发色的C膜的发色区域的面积进行测定。

(g)求出相对于平坦铁板的面积的发色区域的面积作为部分接触面积率。

予以说明，作为由上述A膜和C膜构成的压敏纸，可列举例如富士胶片公司制的压力测定膜“Prescale”极超低压用(LLLW)。

[2]根据[1]所述的载物台，其中，上述载物台在光学膜载置面具有突起。

[3]根据[2]所述的载物台，其中，上述突起在上述载物台的纵向或横向上以0.5mm以上且30mm以下的间隔进行配置。

在此，上述突起只要在纵向及横向的任一方向上以上述间隔进行配置即可，也可以在两方向上均以上述间隔进行配置。

[4]一种光学膜的物性测定装置，其具备[1]～[3]中任一项所述的载物台。

[5]一种测定方法，其是光学膜的物性值的测定方法，其包括：在[1]～[3]中任一项所述的载物台上载置光学膜的工序；对载置于上述载物台的光学膜的物性值进行测定的工序；以及从载物台卸下上述光学膜的工序。

发明的效果

根据本发明，可以提供即使是具有粘合性的光学膜也能容易地从载物台卸下的载物台。

附图说明

图1是表示用于测定部分接触面积率的方法(1)的示意性剖视图。

图2是表示本发明的第一实施方式涉及的载物台的示意性剖视图及俯视图。