[发明专利]一种压电检波器测试仪的标准传感器及设计方法

权利要求书

1.一种压电检波器测试仪的标准传感器及设计方法，其特征在于，至少包括第一压电模块(1)和第二压电模块(2)，所述第一压电模块(1)的第一外壳(3)叠加于所述第二压电模块(2)的第二外壳(7)上。

2.根据权利要求1所述的压电检波器测试仪的标准传感器及设计方法，其特征在于：所述第一压电模块(1)包括第一外壳(3)、第一压盖(4)、第一压电晶片(6)及第一质量体(5)，所述第一压盖(4)合盖于所述第一外壳(3)之上且形成一个密闭空腔，所述第一压电晶片(6)夹在所述第一质量体(5)中间，所述第一质量体(5)、第一压电晶片(6)内置于所述密闭空腔之中。

3.根据权利要求2所述的压电检波器测试仪的标准传感器及设计方法，其特征在于：所述第一外壳(3)底部小开口大且内外表面均呈一个阶梯状，所述第一外壳(3)的底部外直径与开口的内表面直径相等，所述第一外壳(3)底面中心设置有凹槽。

4.根据权利要求2所述的压电检波器测试仪的标准传感器及设计方法，其特征在于：所述第一压盖(4)内部中空，所述第一压盖(4)反扣于所述第一外壳(3)的阶梯上并形成腔体空间，所述第一压盖(4)外表面与第一外壳(3)开口的内表面贴合在一起，所述第一压盖(4)反扣后的上表面低于所述第一外壳(3)开口的侧壁。

5.根据权利要求2所述的压电检波器测试仪的标准传感器及设计方法，其特征在于：所述第一质量体(5)包括上质量体(11)与下质量体(12)，所述下质量体(12)中间为一通孔，所述下质量体(12)的通孔与所述外壳的凹槽部分相重合，所述上质量体(11)一侧设置有中心轴，所述中心轴插入所述下质量体(12)的通孔中，所述中心轴未伸入所述第一外壳(3)的凹槽。

6.根据权利要求2所述的压电检波器测试仪的标准传感器及设计方法，其特征在于：所述第一压电晶片(6)穿过所述第一质量体(5)的中心轴，所述第一压电晶片(6)的外侧边缘夹在第一外壳(3)与第一压盖(4)之间，所述第一压电晶片(6)由上晶片(13)、下晶片(15)及基片(14)组成，所述上晶片(13)、下晶片(15)及基片(14)均为圆形，所述上下晶片直径相同且小于所述基片(14)直径，所述上晶片(13)和下晶片(15)分别固结于基片(14)两侧。

7.根据权利要求1所述的压电检波器测试仪的标准传感器及设计方法，其特征在于：所述第二压电模块(2)包括第二外壳(7)、第二压盖(8)、第二压电晶片(9)及第二质量体(10)，所述第二压盖(8)合盖于所述第二外壳(7)之上且形成一个密闭空腔，所述第二压电晶片(9)夹在所述第二质量体(10)中间，所述第二质量体(10)、第二压电晶片(9)内置于所述密闭空腔之中。

8.根据权利要求7所述的压电检波器测试仪的标准传感器及设计方法，其特征在于：所述第二外壳(7)底部小开口大且内外表面均呈一个阶梯状，所述第二外壳(7)的底部外直径与开口的内表面直径相等，所述第二外壳(7)底面中心设置有凹槽。

9.根据权利要求7所述的压电检波器测试仪的标准传感器及设计方法，其特征在于：所述第二压盖(8)内部中空，所述第二压盖(8)反扣于所述第二外壳(7)的阶梯上并形成腔体空间，所述第二压盖(8)外表面与第二外壳(7)开口的内表面贴合在一起，所述第二压盖(8)反扣后的上表面低于所述第二外壳(7)开口的侧壁。

10.根据权利要求7所述的压电检波器测试仪的标准传感器及设计方法，其特征在于：所述第二质量体(10)包括上质量体(11)与下质量体(12)，所述下质量体(12)中间为一通孔，所述下质量体(12)的通孔与所述外壳的凹槽部分相重合，所述上质量体(11)一侧设置有中心轴，所述中心轴插入所述下质量体(12)的通孔中，所述中心轴未伸入所述第二外壳(7)的凹槽。