[发明专利]一种图像传感器和一种用于读出像素信号的方法在审
申请号: | 201910619769.4 | 申请日: | 2019-07-10 |
公开(公告)号: | CN110719418A | 公开(公告)日: | 2020-01-21 |
发明(设计)人: | A·斯帕尼奥洛;J·博瑞曼斯 | 申请(专利权)人: | IMEC非营利协会 |
主分类号: | H04N5/357 | 分类号: | H04N5/357;H04N5/378 |
代理公司: | 31100 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 杨丽;蔡悦 |
地址: | 比利*** | 国省代码: | 比利时;BE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 列线 压降 校正 校正电压信号 像素信号 光电探测器 图像传感器 关联 复位信号 积分信号 输出表示 双采样 延伸 入射 读出 检测 配置 | ||
1.一种图像传感器(100),包括:
用于检测入射在像素上的光的像素(110)的阵列,
其中所述阵列中的每个像素(110)包括光电探测器(112)和像素内相关双采样CDS电路系统(114),所述光电探测器(112)用于生成对应于入射在所述光电探测器(112)上的光量的光积分信号,而所述像素内相关双采样CDS电路系统(114)被连接到所述光电探测器(112)并被配置成输出表示所述光积分信号和复位信号之差的CDS信号;
沿着所述阵列中的像素(110)的列延伸并与该列相关联的列线(130),所述列线(130)被配置成选择性地从所述列中的像素(110)接收像素信号,以便读出指示入射到所述像素(110)的所述光电探测器上的光量的值;
沿着所述像素(110)的列延伸并与该列相关联的压降校正线(134),其中所述压降校正线(134)被配置成向所述列中的像素(110)提供校正电压信号使得所述校正电压信号被加到所述CDS信号以形成由所述列线(130)接收到的来自所述像素(110)的所述像素信号并且对通过所述列线(130)读出的像素信号的压降进行校正。
2.如权利要求1所述的图像传感器,其特征在于,每个像素(110)包括存储电容器(116),所述存储电容器(116)被连接到所述CDS电路系统(114)并被配置成存储所述CDS信号。
3.如权利要求2所述的图像传感器,其特征在于,每个像素(110)进一步包括采样开关晶体管(122),所述采样开关晶体管(122)被配置成选择性地将所述存储电容器(116)的板连接到接地。
4.如权利要求3所述的图像传感器,其特征在于,所述采样开关晶体管(122)被连接到采样控制线以便接收采样控制信号来激活所述采样开关晶体管(122),并且在入射在所述光电探测器上的光的积分期间将所述存储电容器(116)连接到接地以便存储所述CDS信号。
5.如权利要求2-4中任一项所述的图像传感器,其特征在于,每个像素(110)进一步包括读出开关晶体管(124),所述读出开关晶体管(124)被配置成选择性地将所述存储电容器(116)的板连接到所述压降校正线(134)。
6.如权利要求5所述的图像传感器,其特征在于,所述读出开关晶体管(124)被连接到读出控制线以便接收读出控制信号来激活所述读出开关晶体管(124),并在读出所述像素信号期间将所述存储电容器(116)连接到所述压降校正线(134)以便将所述校正电压信号加到所述CDS信号。
7.如前述权利要求中任一项所述的图像传感器,其特征在于,所述列线(130)和所述压降校正线(134)被形成为沿着所述像素(110)的列的相同的线。
8.如前述权利要求中任一项所述的图像传感器,其特征在于,所述列线(130)与用于在所述列线(130)上提供偏置电流的列线电流源(132)相关联,并且所述压降校正线(134)与用于在所述压降校正线(134)上提供偏置电流的压降校正电流源(136)相关联。
9.如权利要求8所述的图像传感器,其特征在于,所述列线电流源(132)和所述压降校正电流源(136)被配置成在所述列线(130)和所述压降校正线(134)上提供相等的偏置电流。
10.如权利要求8所述的图像传感器,其特征在于,所述压降校正电流源(136)被配置成被控制以提供比由所述列线电流源(132)提供的偏置电流大的偏置电流,其中所述压降校正电流源(136)基于校准值被控制以便向增益低于1的源跟随器(118)进行补偿以将所述像素信号读出到所述列线(130)。
11.如权利要求8-10中任一项所述的图像传感器,其特征在于,所述列线电流源(132)和所述压降校正电流源(136)被布置在相对于所述像素(110)的列的共同侧处。
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