[发明专利]一种干涉显微镜自动对焦装置及方法有效

专利信息
申请号: 201910619990.X 申请日: 2019-07-10
公开(公告)号: CN110260783B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 刘乾;李璐璐;张辉;黄小津 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
主分类号: G01B9/04 分类号: G01B9/04;G01B9/02;G02B21/24;G02B21/36
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 伍星
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 干涉显微镜 自动 对焦 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种干涉显微镜自动对焦装置的自动对焦方法,其特征在于,所述干涉显微镜自动对焦装置包括照明分光镜(2)、显微物镜(3)、干涉分光镜(4)、参考镜(5)、管镜(6)、相机(7)、以及用于承载样品(9)的移动台(8),还包括照明单元(1);

所述照明单元(1)发出准直光束,准直光束经照明分光镜(2)反射后形成照明光束(10),照明光束(10)通过显微物镜(3)后一部分被干涉分光镜(4)反射形成参考光束(11),另外一部分透射经过干涉分光镜(4)形成测试光束(12);

所述参考光束(11)依次被参考镜(5)、干涉分光镜(4)反射,之后依次透射经过显微物镜(3)、照明分光镜(2)、管镜(6),在相机(7)上形成参考光斑;

所述测试光束(12)照射在样品(9)上后被反射,依次透射经过干涉分光镜(4)、显微物镜(3)、照明分光镜(2)、管镜(6),在相机(7)上形成测试光斑;

所述自动对焦方法包括以下步骤:

(a)启动装置,在未放置样品(9)时相机采集一幅图像,记为参考光斑图像I0,检测参考光斑图像上光斑的位置,记为(x0,y0);

(b)将样品(9)放置在显微物镜(3)的物面附近,调节样品(9)相对于显微物镜(3)的高度,直到相机(7)中出现测试光斑;

(c)采集图像,记为测试光斑图像Ik;

(d)测试光斑图像Ik减去参考光斑图像I0,得到Gk=Ik-I0,计算Gk上的测试光斑位置,记为(xk,yk);

(e)计算光斑距离dk=p×[(xk-x0)2+(yk-y0)2]1/2,若dk小于阈值则自动对焦结束;若dk大于阈值则进入步骤(f),其中p为相机上的像素尺寸;

(f)若xkx0,则移动台(8)带动样品(9)向靠近显微物镜(3)的方向移动距离dk/tan(θ)/M/2;

若xkx0则位移台(8)向远离显微物镜(3)的方向移动距离dk/tan(θ)/M/2;

其中,θ为照明光束(10)通过显微物镜(3)后与光轴的夹角;M为显微物镜(3)与管镜(6)组合的放大倍数;

(g)重复步骤(c)~(e),直到自动对焦结束。

2.根据权利要求1所述的自动对焦方法,其特征在于,对于相机采集的图像而言,x轴位于准直光束与光轴确定的平面内,且与光轴垂直;

若照明光束(10)位于光轴右侧,则相机(7)的像素阵列x轴以右方为正方向;

若照明光束(10)位于光轴左侧,则相机(7)的像素阵列x轴以左方为正方向。

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