[发明专利]芯片筛选装置及方法

说明书

本发明提供一种芯片筛选装置，其包含：可调电源，其与交流电源连接，用于依据芯片筛选要求，提供预设电压值的电压；监控插件板，其与可调电源连接，其上有监控插件，用于通过监控插件对待筛选芯片进行对应的芯片状态测试；芯片安装工装，其与监控插件板连接，其上设置的插槽用于安装待筛选芯片；电压测量模块，其并联在监控插件板的两端，用于测量待筛选芯片两端的电压；状态指示模块，其与监控插件板连接，用于指示芯片状态测试的测试结果，以得到待筛选芯片的筛选结果。本发明测试速度快，显著提高了筛选效率，能够直观的反映芯片测试筛选结果，测试流程简单，避免了芯片的损坏，并且专用的芯片安装工装还具备管脚整形的效果。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，具体地说，涉及一种芯片筛选装置及方法。

背景技术

芯片都有一定的不良率，具体到存储芯片来说，存储芯片在监控记录插件上存在复位隐患，在入库检验时，必须要对来料进行筛选实验，筛选出参数一致性较好的存储芯片，现有的芯片测试平台存在如下问题：

1、各元器件的接线没有压接端子有松脱的风险；

2、各元器件接线位置无任何防护有触电的风险；

3、各元器件裸露在外，容易积压灰尘，静电损伤器件；

4、电路板底部无特殊的绝缘防护，容易造成短路，烧损电路板；

5、测试线无接线对应标识，测试设备较多，如果接错，将直接导致芯片和板子同时烧坏；

6、芯片在测试前必须经过整形才能插入测试的插座中，测试完成后通过专用镊子拔出时，很容易导致管脚弯曲变形，管脚经过反复折弯很容易断裂；

7、测试步骤多、时间长、效率低下。

因此，本发明提供了一种芯片筛选装置及方法。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供了一种芯片筛选装置，所述装置包含：

可调电源，其与交流电源连接，用于依据芯片筛选要求，提供预设电压值的电压；

监控插件板，其与所述可调电源连接，其上有监控插件，用于通过所述监控插件对待筛选芯片进行对应的芯片状态测试；

芯片安装工装，其与所述监控插件板连接，其上设置的插槽用于安装待筛选芯片；

电压测量模块，其并联在所述监控插件板的两端，用于测量待筛选芯片两端的电压；

状态指示模块，其与所述监控插件板连接，用于指示所述芯片状态测试的测试结果，以得到待筛选芯片的筛选结果。

根据本发明的一个实施例，所述装置还包含：直流电源，其连接在所述交流电源以及所述可调电源之间。

根据本发明的一个实施例，所述装置还包含：启动模块，其连接在所述直流电源与所述可调电源之间，用于开启或停止芯片筛选过程。

根据本发明的一个实施例，所述监控插件板上设置有芯片插槽，其与所述芯片安装工装连接。

根据本发明的一个实施例，所述状态指示模块包含：指示灯，其用于指示待筛选芯片是否符合所述筛选要求。

根据本发明的一个实施例，若所述指示灯在全部亮起与全部熄灭之间转换，则判定待筛选芯片不合格；若所述指示灯在预设时间内持续全部亮起，则判定待筛选芯片合格。

根据本发明的一个实施例，所述可调电源、所述监控插件板、所述芯片安装工装、所述电压测量模块以及所述状态指示模块封装在测试工装壳体中。

根据本发明的一个实施例，所述测试工装壳体中包含：间隔板，其用于实现元器件的分层安置。