[发明专利]针座结构及采用该针座结构的测试治具

说明书

一种针座结构，用于固定探针，包括底座，所述底座上设有第一收容腔，所述第一收容腔内设有贯穿所述底座的第一通孔，所述探针设于所述第一通孔中且两端凸伸出所述第一通孔，所述针座结构还包括限位块，所述限位块设于所述底座上且与所述第一收容腔相对设置，所述限位块上设有与所述第一通孔对应的第二通孔，所述探针的一端凸伸入所述第二通孔并抵持于所述限位块上，所述探针的另一端抵持于所述底座上。还涉及采用上述针座结构的测试治具，上述针座结构结构简单，有效避免出现所述探针掉出所述针座结构的情况。

技术领域

本发明涉及一种针座结构及采用该针座结构的测试治具。

背景技术

在一些产品的制程中，如摄像模块的制程中，需要利用测试治具对组装完毕的模块或产品进行功能性的测试。测试时治具针座内的探针、转接板及模块连接器要呈一个导通的状态。原有的针座由于探针下方的穴位为通孔设计，无任何止挡设计，而使得探针容易从针座上掉落，且探针体积小，掉落后难以找回，安装也不易，进而影响了对被测品的测试效率。目前为了避免出现探针从针座上掉落的问题，采取的方法是在针座的下方铁胶带，将探针粘在针座上，安装转接板时，再将胶带去掉，但是在这一过程中仍然会出现探针从针座中掉落。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种针座结构及采用该针座结构的测试治具，旨在将探针固定在针座上，避免出现探针掉落的情况。

一种针座结构，用于固定探针，包括底座，所述底座上设有第一收容腔，所述第一收容腔内设有贯穿所述底座的第一通孔，所述探针设于所述第一通孔中且两端凸伸出所述第一通孔，所述针座结构还包括限位块，所述限位块设于所述底座上且与所述第一收容腔相对设置，所述限位块上设有与所述第一通孔对应的第二通孔，所述探针的一端凸伸入所述第二通孔并抵持于所述限位块上，所述探针的另一端抵持于所述底座上。

在至少一个实施方式中，所述第二通孔包括连通的第一圆柱孔和第二圆柱孔，所述第二圆柱孔的直径小于所述第一圆柱孔的直径，所述第一圆柱孔和所述第二圆柱孔的连通位置处形成用于抵持所述探针的第一抵持部。

在至少一个实施方式中，所述限位块上设有引导斜面，所述引导斜面用于引导所述探针进入所述第二通孔。

在至少一个实施方式中，所述底座设有与所述限位块相适配的第二收容腔，所述限位块设于所述第二收容腔中。

在至少一个实施方式中，所述限位块和所述底座之间的对应位置设有相互配合的弹片和卡槽。

在至少一个实施方式中，所述限位块和所述底座之间的对应位置设有相互配合的锁紧部和固定孔。

在至少一个实施方式中，所述第一通孔包连通的第三圆柱孔和第四圆柱孔，所述第四圆柱孔的直径小于所述第三圆柱孔的直径，所述第三圆柱孔和所述第四圆柱孔的连通位置处形成用于抵持所述探针的第二抵持部。

一种测试治具，包括固定板及设于所述固定板上的针座结构，所述针座结构为上述中所述的针座结构。

在至少一个实施方式中，所述固定板设有第三通孔，所述针座结构设于所述第三通孔位置处，所述探针靠近所述限位块的一端凸伸出所述第三通孔。

在至少一个实施方式中，所述测试治具还包括转接板，当所述转接板设于所述固定板上时，所述探针与所述转接板连接。

上述提供的针座结构及测试治具通过在底座设有第一收容腔，所述第一收容腔内设有贯穿的第一通孔，在所述第一收容腔相对一侧设有限位块，所述限位块设有与所述第一通孔对应的第二通孔，所述探针置于所述第一通孔中且两端分别凸伸出所述第一通孔，所述探针的一端进一步凸伸入所述第二通孔中并抵持于所述限位块上，所述探针的另一端抵持于所述底座上。还涉及采用上述针座结构的测试治具。使用上述的针座结构能够将所述探针有效固定在所述底座上，结构简单，也能够避免出现探针掉落出底座的情况。

附图说明