[发明专利]一种开关测试设备电路及开关测试设备在审
| 申请号： | 201910624963.1 | 申请日： | 2019-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN110412455A | 公开（公告）日： | 2019-11-05 |
| 发明（设计）人： | 周志峰;贾强汉;朱益飞;涂婷 | 申请（专利权）人： | 上海工程技术大学 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 宣慧兰 |
| 地址： | 201620 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 压降 开关测试设备 采集电路 电流采集单元 电压比较单元 光电继电器 控制器 电路 采集 高输入电压 输出控制 依次连接 开闭 通断 损害 保证 | ||
1.一种开关测试设备电路，其特征在于，包括待测开关压降采集电路，所述待测开关压降采集电路包括依次连接的电流采集单元(2)、电压比较单元(3)、光电继电器单元(4)、A/D采样单元(6)和控制器，所述电流采集单元(2)采集待测开关所在回路(1)的电流，电压比较单元(3)的输出控制光电继电器单元(4)的开闭，继而控制A/D采样单元(6)和控制器的通断。
2.根据权利要求1所述的一种开关测试设备电路，其特征在于，所述的电流采集单元(2)包括霍尔元件。
3.根据权利要求1所述的一种开关测试设备电路，其特征在于，所述的待测开关所在回路(1)为串联回路。
4.根据权利要求3所述的一种开关测试设备电路，其特征在于，所述的待测开关所在回路(1)为由电源、电阻和待测开关组成的串联回路。
5.根据权利要求4所述的一种开关测试设备电路，其特征在于，所述的电源为27V电源。
6.根据权利要求1所述的一种开关测试设备电路，其特征在于，所述的电流采集单元(2)和电压比较单元(3)通过隔离放大单元(5)连接。
7.根据权利要求1所述的一种开关测试设备电路，其特征在于，所述的A/D采样单元(6)包括S7-200smart AE08。
8.根据权利要求1所述的一种开关测试设备电路，其特征在于，所述的控制器为PLC。
9.一种开关测试设备，其特征在于，包括权利要求1-8任一所述的开关测试设备电路。
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