[发明专利]一种超级电容内阻测定方法、装置和计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种超级电容内阻测定方法，其特征在于，步骤包括：

S1：向超级电容与取样电阻输入正弦信号U；

S2：采集超级电容的输出电压U₁和取样电阻的输出电压U₂；

S3：利用Goertzel算法计算超级电容输出电压U₁的相位Δθ；

S4：获取取样电阻上的电流值I；

S5：根据公式获取超级电容的内阻值。

2.根据权利要求1所述的超级电容内阻测定方法，其特征在于，所述步骤S1包括：

S01：向超级电容与取样电阻输入正弦信号U，将正弦信号U进行V/I转换，获得电流信号；

S02：放大电流信号并进行滤波处理，获得恒定电流。

3.根据权利要求1所述的超级电容内阻测定方法，其特征在于，所述步骤S3的具体步骤为：利用Goertzel算法求取频点的实部与虚部，利用反正切函数求出超级电容输出电压的相位Δθ。

4.根据权利要求1所述的超级电容内阻测定方法，其特征在于，所述步骤S1之前还包括步骤S001：将超级电容和取样电阻串联。

5.一种超级电容内阻检测装置，其特征在于，包括：

交流电压源模块，用于向超级电容和取样电容提供正弦信号U；

V-I转换模块，用于将交流电压源模块输入正弦信号U进行V/I转换，获得电流信号；

调理模块，用于放大电流信号和滤波处理，获得恒定电流；

A/D采集模块，用于采集超级电容的电压U₁和取样电阻的电压U₂；

处理器，用于获取流经取样电阻的电流I，对超级电容的输出电压进行Goertzel计算，获得超级电容的内阻值；

所述交流电压源模块与V-I转换模块并联，调理模块与A/D采集模块连接，A/D采集模块与处理器连接。

6.根据权利要求5所述的超级电容内阻检测装置，其特征在于，所述调理模块包括交流差分放大单元和低通滤波单元，所述交流差分放大单元用于放大电流信号，所述低通滤波单元用于对放大后的电流信号进行滤波处理。

7.根据权利要求5所述的超级电容内阻检测装置，其特征在于，还包括显示模块，所述显示模块用于显示超级电容的内阻值。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质用于存储程序代码，所述程序代码用于执行权利要求1至4任意一项所述的超级电容内阻的测定方法。