[发明专利]侦测装置及侦测方法

说明书

本发明涉及一种侦测装置及侦测方法，该侦测装置包括：侦测元件，设置于折弯区并与柔性面板连接，侦测元件随着柔性面板折弯而折弯；控制装置，与侦测元件连接，控制装置包括与侦测元件对应的阻值及应力曲线单元、阻值计算单元和电流输送单元，电流输送单元用于向侦测元件输送电流，阻值计算单元用于计算侦测元件的阻值，阻值及应力曲线单元用于根据阻值计算单元计算的阻值显示侦测元件的折弯应力；以及电压测量器，与侦测元件连接，电压测量器用于测量侦测元件的电压值。本发明可以实现实时监测柔性面板内的金属导线在折弯时的折弯应力变化情况。

技术领域

本发明涉及一种侦测装置，特别是涉及一种用于侦测柔性面板上折弯区的折弯应力的侦测装置及侦测方法。

背景技术

在柔性面板的应用当中，柔性面板在折弯时，若折弯应力过大常常会导致柔性面板上的金属走线脱层(de-lamination)甚至是整机失效，因此如何早期得知金属走线在随柔性面板弯折时承受的折弯应力的改变规则是面板商及品牌厂商重要的课题。

现有技术的通常做法是在柔性面板的设计初期会将折弯应力的因素考虑进去，但是在柔性面板制作时，还没有可以实现实时监控面板折弯应力是否超出设计值或随时间应力改变的情况的侦测装置，进而导致无法保证整机可靠度的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种侦测装置及侦测方法，以解决上述技术问题，具体的技术方案如下：

提供一种侦测装置，用于侦测柔性面板上的折弯区的折弯应力，其中侦测装置包括：侦测元件，设置于折弯区并与柔性面板连接，侦测元件随着柔性面板折弯而折弯；控制装置，与侦测元件连接，控制装置包括与侦测元件对应的阻值及应力曲线单元、阻值计算单元和电流输送单元，电流输送单元用于向侦测元件输送电流，阻值计算单元用于计算侦测元件的阻值，阻值及应力曲线单元用于根据阻值计算单元计算的阻值显示侦测元件的折弯应力；以及电压测量器，与侦测元件连接，电压测量器用于测量侦测元件的电压值。

其中，阻值计算单元通过电流输送单元输送的电流值及电压测量器测量的电压值计算侦测元件的阻值，阻值及应力曲线单元根据阻值计算单元计算的侦测元件的阻值显示侦测元件的折弯应力。

在一种可能的设计中，侦测元件为金属层,金属层的两端分别与柔性面板连接。

在一种可能的设计中，金属层的长度与折弯区的长度相对应，并且金属层的两端分别位于折弯区的两端。

在一种可能的设计中，还包括氧化物层，设置于金属层与柔性面板之间。

在一种可能的设计中，还包括二根第一金属引线，一端与柔性面板连接，并且二根第一金属引线与柔性面板的连接处位于侦测元件两侧，二根第一金属引线的另一端与控制装置连接，控制装置通过二根第一金属引线及柔性面板与侦测元件连接。

在一种可能的设计中，还包括二根第二金属引线，一端与侦测元件连接，并且二根第二金属引线与侦测元件的连接处位于侦测元件两端，二根第二金属引线的另一端与电压测量器连接。

在一种可能的设计中，二根第一金属引线与其相邻的二根第二金属引线的距离与二根第二金属引线之间的距离相等。

在一种可能的设计中，电流输送单元是间隔一段时间或是在柔性面板折弯时向侦测元件输送电流。

在一种可能的设计中，电流输送单元为驱动IC，电压测量器为电压表。

一种侦测方法，用于侦测柔性面板上的折弯区的折弯应力，其中侦测方法包括以下步骤：

(a)将侦测元件设置于折弯区并与柔性面板连接，以使侦测元件随着柔性面板折弯而折弯；

(b)将控制装置与侦测元件连接；

(c)将电压测量器与侦测元件连接；