[发明专利]执行多种测试的测试系统、传送装置与接收装置

说明书

提供了测试系统、传送装置和接收装置。测试系统包含传送器、电容、与接收器。该传送器包含：输出电路经由该电容耦接至该接收器；传送电路于第一测试中发送预设传送信号至该输出电路的焊垫；信号产生电路于第二测试的第一与第二程序中分别输出第一与第二测试信号至该焊垫；比较电路于该第一与第二程序中比较该焊垫的信号与参考信号以得到第一与第二结果共同指出第二测试是否通过。该接收器包含：输入电路经由该电容耦接至该传送器；开关，耦接于该输入电路与接收电路之间，于第一测试与第二程序中导通，并于第一程序中不导通；该接收电路于第一测试中尝试接收该预设传送信号以判断第一测试是否通过，还于第二程序中尝试提供该电容一放电路径。

技术领域

本发明涉及能够执行多种测试的测试系统、传送装置、与接收装置，尤其涉及能够于交流耦合模式下执行多种测试的测试系统、传送装置、与接收装置。

背景技术

高速信号传输通常基于直流耦合(DC coupling)架构或交流耦合(AC coupling)架构。直流耦合架构中，传送器与接收器直接相连；因此，在此架构下，直流信号与交流信号均可被成功传输。交流耦合架构中，传送器经由电容与接收器相连；因此，在此架构下，只有交流信号可被成功传输。采用直流耦合架构的协定包含高画质多媒体接口(HighDefinition Multimedia Interface,HDMI)协定；而采用交流耦合架构的协定包含快速周边元件互连(Peripheral Component Interconnect Express,PCI-E)协定、通用序列总线(Universal Serial Bus,USB)协定、以及显示端口(DisplayPort,DP)协定。

图1显示一传统测试系统用来于交流耦合架构下测试一传送器。图1的测试系统100包含一受测装置(device under test,DUT)110(亦即：传送器)、一多工器120、一电容130、一接收器140、与一检测装置150。当测试受测装置110的传送功能时，多工器120电性连接受测装置110与接收器140；当测试受测装置110是否有开路/短路问题时，多工器120电性连接受测装置110与检测装置150。

图2显示另一传统测试系统用来于交流耦合架构下测试一接收器。图2的测试系统200包含一受测装置210(亦即：接收器)、一多工器220、一电容230、一传送器240、与一检测装置250。当测试受测装置210的接收功能时，多工器220电性连接受测装置210与传送装置240；当测试受测装置210是否有开路/短路问题时，多工器220电性连接受测装置210与检测装置250。

承上所述，传统测试系统需要多工器以于交流耦合架构下实现不同测试(例如：传送/接收功能测试，以及开路/短路测试)；然而，传统测试系统面临下列问题：

随着信号传输的速度愈来愈快，合用的多工器愈来愈难找。

多工器本身会造成额外的信号损耗或反射，从而劣化测试环境而导致产品的良率下降。

值得注意的是，若不使用多工器，图1的测试系统100会分成两套系统以分别执行传送功能测试与开路/短路测试，图2的测试系统200会分成两套系统以分别执行接收功能测试与开路/短路测试，如此一来，测试变多且测试时间变长，从而测试成本也会增加。

发明内容

本发明的一目的在于提供能够于交流耦合模式下执行多种测试的测试系统、传送装置、与接收装置，以避免现有技术的问题。