[发明专利]一种测试方法及装置

说明书

本申请提供一种测试方法及装置，所述方法包括：将设定数量的模拟数据加载到待测数据库上，其中，所述模拟数据为根据所述待测数据库的表结构生成的数据，所述设定数量为大于或等于50万的正整数；在安装所述待测数据库的计算设备上执行测试任务，其中，所述测试任务为根据所述模拟数据生成的任务；根据所述测试任务的执行时间评估所述待测数据库在所述计算设备上的性能，其中，所述测试任务的执行时间为测试任务的结束时间与开始时间的差值。上述技术方案可以快速测试数据库性能，减少人力物力成本，提高生产效率。

技术领域

本发明涉及计算机领域，尤其涉及测试方法及装置。

背景技术

人工智能和5G通信网络的发展，为通信网络拉通全数据面，释放全数据洞察能力和真正实现网络全智能和自动化运营，进一步实现物联网。而物联网之后产生的数据将会是爆炸试的增长；如何存储、分析这些数据，如何将数据转换为生产力，这些都是所有企业所面临的问题。

应用程序所产生的数据主要是在数据库里面进行分析、处理、加工。Sybase IQ数据库查询快，数据压缩比高，加载快。它适做DSS(Decision Support System，决策支持系统)、数据集市、数据仓库以及OLAP(Online Analytical Processing，联机分析处理)等，从而降低其企业运营成本。但是随着数据量的爆发增长，Sybase IQ所承载的数据量越来越多，导致其硬件平台无法支撑其现有业务系统。通常情况下，需要评估Sybase IQ的性能，进而确定何时进行对硬件进行扩容、扩容到什么配置。

现有的Sybase IQ性能评估方法通常需要投入大量的人力来搭建环境，模拟真实业务进行测试，不仅评估速度慢，而且准确性较低，此外，需要操作人员具备一定专业背景，人力物力投入成本高。

发明内容

本申请所要解决的技术是提供一种测试方法及装置，可以快速测试数据库性能，减少人力物力成本，提高生产效率。

为了解决上述技术问题，本申请提供了一种测试方法，所述方法包括：

将设定数量的模拟数据加载到待测数据库上，其中，所述模拟数据为根据所述待测数据库的表结构生成的数据，所述设定数量为大于或等于50万的正整数；

在安装所述待测数据库的计算设备上执行测试任务，其中，所述测试任务为根据所述模拟数据生成的任务；

根据所述测试任务的执行时间评估所述待测数据库在所述计算设备上的性能，其中，所述测试任务的执行时间为测试任务的结束时间与开始时间的差值。

可选地，

所述测试任务包括N个测试子任务；

N为获取到的所述服务器的中央处理器CPU的数量；所述N为大于或等于2的正整数。

可选地，

所述在安装所述待测数据库的计算设备上执行测试任务包括：

将N个测试子任务分配给相应的CPU，以使每个CPU均分配有测试子任务；

所有CPU并行执行分配的测试子任务。

可选地，

所述测试任务包括以下操作中的一种或多种：根据设定的业务逻辑生成的分析操作、统计操作、排序操作。

可选地，

所述根据所述测试任务的执行时间评估所述待测数据库在所述计算设备上的性能包括：

确定所述测试任务的执行时间所属的性能时间区间；

根据所述性能时间区间对应的性能等级确定所述待测数据库的性能。

本申请还提供一种测试装置，所述装置包括：存储器和处理器；