[发明专利]用于磁瓦检测的照明装置及用于磁瓦检测的检测系统

说明书

本发明提供一种用于磁瓦检测的照明装置，包括一半球形的外壳及与外壳底部连接的连接板，所述外壳底部具有一开口，在所述连接板上开设有小于开口尺寸的第二通孔，所述外壳连接在连接板的一面且开口的中垂线与第二通孔的中垂线重合，在连接板的另一面固定设置有固定部，所述固定部上设置有至少两补光灯，所述补光灯沿第二通孔均匀设置。本发明还提供一种用于磁瓦检测的检测系统，包括上述的用于磁瓦检测的照明装置。本发明的用于磁瓦检测的照明装置及用于磁瓦检测的检测系统可对磁瓦进行较好地曝光。

【技术领域】

本发明涉及磁瓦检测技术领域，特别涉及用于磁瓦检测的照明装置及用于磁瓦检测的检测系统。

【背景技术】

磁瓦是主要用在永磁直流电机上的瓦状磁铁，在永磁电机制造中，电机使用质量不合格的磁瓦而造成的回收维修成本是十分昂贵的；磁瓦的代表性缺陷有开裂、圈裂、掉角和平面不平等，由于磁瓦尺寸较多且不规则使用人工检测很难把不合格的磁瓦剔除出，因此人们需要借助机器帮助人们准确识别出不合格的磁瓦。

机器通过拍摄的磁瓦图像结合人工智能来确认磁瓦图像中是否存在不合格的缺陷以分拣出不合格的磁瓦，藉此来增加磁瓦的良率。对于通过机器视觉检测磁瓦图像确认所拍摄的磁瓦是否有缺陷来说，最为关键的就是所拍摄的磁瓦图像的质量，而磁瓦图像的质量很大程度上取决于磁瓦的曝光程度。曝光程度较好的磁瓦可清楚地将缺陷呈现在磁瓦图像上，可较大程度地增加机器视觉检测的准确性。如在磁瓦生产过程中，难免会出现一些“条状光滑划痕”，这种不影响磁瓦质量但由于划痕区域光滑，非常容易发生镜面反射。如果划痕在受到光源照射发生镜面反射且反射出的光未能进入工业相机，那么划痕在图像中显现出的特征与磁瓦的圈裂、开裂缺陷在图像中显现的特征一模一样，即使人眼也不能区分出它们，最终导致划痕会被误识别为圈裂或开裂缺陷，造成大量误检，影响生产效率。又例如，利用直径150mm 的白色LED碗状无影漫射光源垂直照射，对内弧面中心区域和外弧面中心区域可以达到比较满意的效果，但是两侧区域依然存在光照不均匀，“长条状光滑划痕”被误识别为圈裂或开裂缺陷的风险非常大。再例如，使用一种用于磁瓦检测的可调均匀成像光源装置，可以降低误减的概率，但是这种装置是一次同时获取磁瓦倒角面与弧形平面的图像，虽然可以减小检测工位，但是牺牲了检测精度和稳定性。当磁瓦较大而开裂较小，且开裂缺陷出现在圆弧面边界附近，几乎会百分之百漏检，除此外，当细小圈裂缺陷出现在倒角面时，也几乎会百分之百漏检，分拣不出带有缺陷的磁瓦，最终影响系统的检测精度。因此，如何解决磁瓦曝光程度不足的问题，便成了解决的重点。

【发明内容】

为克服上述的技术问题，本发明提供了一种用于磁瓦检测的照明装置及用于磁瓦检测的检测系统。

本发明解决技术问题的方案是提供一种用于磁瓦检测的照明装置，其包括一半球形的外壳及与外壳底部连接的连接板，所述外壳底部具有一开口，在所述连接板上开设有小于开口尺寸的第二通孔，所述外壳连接在连接板的一面且开口的中垂线与第二通孔的中垂线重合，在连接板的另一面固定设置有固定部，所述固定部上设置有至少两补光灯，所述补光灯沿第二通孔均匀设置。

优选地，所述固定部包括固定架与固定板，所述固定架一端与连接部固定连接，另一端与固定板固定连接，每一所述补光灯对应两块所述固定板，所述补光灯的两端分别与固定板连接。

优选地，所述补光灯包括灯体与连接在灯体两端的螺栓，所述螺栓可旋进或旋离灯体，在固定板上设置有槽孔，所述螺栓包括固定连接的头部与螺杆，所述螺杆部分位于槽孔中，部分位于灯体中，所述头部位于固定板远离灯体的一端，通过螺杆旋离灯体减少头部对固定板的压紧力以调节补光灯所处固定板的位置，通过螺杆旋近灯体增加头部对固定板的压紧力以将补光灯与固定板固定连接。

优选地，所述槽孔在固定板上呈直线形或曲线形。

优选地，所述补光灯包括壳体、条形光源与漫反射板，所述壳体具有一开口，所述条形光源位于壳体中，所述漫反射板固定于壳体的开口处，所述条形光源发出的光经由漫反射板从壳体中均匀发射出。