[发明专利]一种致密砂岩全视域的孔隙、物性检测方法和装置

说明书

本发明公开了一种致密砂岩全视域的孔隙、物性检测方法和装置，涉及油气储层评价领域，其中，一种致密砂岩全视域的孔隙检测方法，包括：利用荧光染料对致密砂岩的孔隙进行填充，得到铸体样品；在全视域下，对所述铸体样品进行扫描，得到若干所述孔隙对应的二维荧光数据；利用全部所述二维荧光数据进行表面建模，得到表面模型的图像，所述图像用于展示所述致密砂岩孔隙分布位置和形态；分别计算若干所述二维荧光数据对应的荧光区域面积，根据所述荧光区域面积得到每个所述孔隙的等效孔隙直径。以解决目前无法精确识别致密砂岩微观孔隙、对于孔隙发育不均匀的岩石样品会产生较大的分析误差以及直接影响面孔率和等效孔隙直径的计算精度的问题。

技术领域

本发明涉及油气储层评价领域，具体说是一种致密砂岩全视域的孔隙、物性检测方法和装置, 尤其涉及一种在油田勘探开发过程中对以致密砂岩为主的非常规储层中致密砂岩全视域铸体（薄片）样品的孔隙、物性检测方法和装置。

背景技术

在目前国际能源紧缺的前提下，以泥岩和致密砂岩为主的非常规储层是挖潜原油储量的新方向。致密砂岩油气主要赋存于低孔、低渗砂岩储集层中，因此对致密砂岩面孔率及孔隙直径的分析和研究具有重大意义。

以往通常利用普通光镜采集致密砂岩铸体薄片孔隙特征图片，再通过图像分析软件后期处理，根据色差识别和提取孔隙并计算面孔率及等效孔隙直径等，但该方法存在以下缺点：（1）普通光镜放大倍数较低，通常为50X/100X/200X/400X倍等，无法精确识别致密砂岩微观孔隙；（2）每张微观照片能呈现的视域范围最大为铸体薄片的4%，对于孔隙发育不均匀的岩石样品会产生较大的分析误差；（3）图像分析软件根据色差识别和提取孔隙，但由于孔隙直径差异，孔隙内填充的染料颜色会深浅不一，导致图像分析软件无法准确识别和提取，直接影响面孔率和等效孔隙直径的计算精度。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种致密砂岩全视域的孔隙、物性检测方法和装置，以解决目前无法精确识别致密砂岩微观孔隙、对于孔隙发育不均匀的岩石样品会产生较大的分析误差以及直接影响面孔率和等效孔隙直径的计算精度的问题。

第一方面，本发明提供种致密砂岩全视域的孔隙检测方法，包括：

利用荧光染料对致密砂岩的孔隙进行填充，得到铸体样品；

在全视域下，对所述铸体样品进行扫描，得到若干所述孔隙对应的二维荧光数据；

利用全部所述二维荧光数据进行表面建模，得到表面模型的图像，所述图像用于展示所述致密砂岩孔隙分布位置和形态；

分别计算若干所述二维荧光数据对应的荧光区域面积，根据所述荧光区域面积得到每个所述孔隙的等效孔隙直径。

优选地，在全视域下，对所述铸体样品进行扫描，得到二维数据；

对所述二维数据进行分离，得到所述二维数据；

其中，所述二维数据为全视域铸体样品的数据，包括：所述二维荧光数据和岩石骨架二维数据。

优选地，在对所述铸体样品进行扫描前，确定所述荧光染料的波长范围；以及/或

所述确定所述荧光染料的波长范围的方法为：选择第一设定波长的激光作为激发光源对所述荧光染料进行扫描，多次接收一定范围的特征荧光光谱数据；分别对多次所述的特征荧光光谱数据绘制荧光光谱曲线，将若干所述光光谱曲线叠加到一张谱图中，确定所述荧光染料的波长范围；

根据所述波长范围得到若干所述孔隙对应的二维荧光数据；

其中，所述多次至少为1次。

优选地，所述的检测方法，还包括：

计算面孔率，所述面孔率的计算方法为：

计算所述荧光区域面积之和；