[发明专利]一种MSe2薄膜材料及其制备方法和应用在审
申请号: | 201910635653.X | 申请日: | 2019-07-15 |
公开(公告)号: | CN110195214A | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | 邹俭鹏;冒旭 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/06;C23C14/58 |
代理公司: | 长沙永星专利商标事务所(普通合伙) 43001 | 代理人: | 何方 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜材料 薄膜 制备方法和应用 二硒化钼薄膜 二硒化钨 基底 范德瓦尔斯力 制备技术领域 不锈钢表面 层状半导体 层状结构 单分子层 紧密堆积 摩擦材料 摩擦系数 水平生长 滑动 单分子 密排 应用 | ||
1.一种MSe2薄膜材料,其特征在于,包括基底、以及负载于基底上的MSe2薄膜,所述MSe2薄膜由二硒化钨薄膜、二硒化钼薄膜中的至少一种构成。
2.根据权利要求1所述的MSe2薄膜材料,其特征在于,所述基底为不锈钢、镍基高温合金中的一种;所述基底的厚度为3~20mm。
3.根据权利要求1所述的MSe2薄膜材料,其特征在于,所述MSe2薄膜的厚度为1~50um。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的MSe2薄膜材料的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)基底预处理;
(2)利用射频磁控溅射在基底表面生成非化学计量比的二硒化钨和/或二硒化钼薄膜;
(3)将非化学计量比的二硒化钨和/或二硒化钼薄膜进行硒化热处理,得到化学计量比的二硒化钨和/或二硒化钼薄膜材料。
5.根据权利要求4所述的MSe2薄膜材料的制备方法,其特征在于,所述MSe2薄膜材料的制备方法,包括以下步骤:
(1)不锈钢基底预处理:依次采用500目,1000目和2000目砂纸打磨,并进行抛光处理,将不锈钢分别用丙酮和无水乙醇超声清洗900s,去除表面杂质,得到预处理后的不锈钢基底;
(2)射频磁控溅射:将步骤(1)所得预处理后的不锈钢基底置于磁控溅射室内后,将磁控溅射室抽真空至5.0×10-4Pa以下,以氩气为工作气体,二硒化钨、二硒化钼靶材为溅射源,控制氩气的压力为0.5Pa~5.0Pa,进行射频磁控溅射,在不锈钢基底表面生成非化学计量比的二硒化钨和/或二硒化钼薄膜;
(3)硒化热处理:将硒粉放置于刚玉坩埚内,将步骤(2)所得二硒化钨和/或二硒化钼薄膜放置于两个刚玉舟倒扣在一起构成的容器内,然后将放置硒粉的刚玉坩埚、放置二硒化钨和/或二硒化钼薄膜的容器置于真空度在0.8Pa以下,温度为400~800℃的条件下,热处理5~40min,在不锈钢基底表面生成化学计量比的二硒化钨和/或二硒化钼薄膜。
6.根据权利要求5所述的MSe2薄膜材料的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,将超声处理后的不锈钢置于无水乙醇中待用,取用前用99.999%的氮气吹干表面。
7.根据权利要求5所述的MSe2薄膜材料的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,二硒化钨、二硒化钼靶材与不锈钢基底之间的距离为5~15cm。
8.根据权利要求5所述的MSe2薄膜材料的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,射频磁控溅射的功率为60~150W,偏压为-200~0V,射频磁控溅射的时间为20~90min。
9.根据权利要求5所述的MSe2薄膜材料的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,射频磁控溅射过程中,不锈钢基底的温度为20~500℃。
10.根据权利要求1~3中任一项所述MSe2薄膜材料的应用,其特征在于,将其应用于摩擦材料领域。
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